CVE-2024-43067 in Snapdragon Auto
الملخص
بحسب VulDB • 05/06/2026
يحدث تلف في الذاكرة أثناء نسخ البيانات المقروءة من ذاكرة EEPROM، نظرًا لأن تكوين الإدخال/الإخراج (IO) يتم تعريضه كذاكرة مشتركة.
Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.