CVE-2022-25727 in Snapdragon Consumer IOT

要約

〜によって VulDB • 2026年06月09日

Snapdragon Consumer IOT、Snapdragon Industrial IOT、Snapdragon Voice & Musicにおけるmodemのメモリ破損は、メモリへのコピー時に不適切な長さチェックが行われることで発生します。

If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.

• 責任者: Qualcomm, Inc.
• 予約する: 2022年02月22日
• 公開: 2022年11月15日
• モデレーション: 承諾済み
• エントリ: VDB-213696
• CPE: 準備完了
• CWE: CWE-119 (確認済み)
• CVSS: 9.8 (NVD)
• EPSS: 0.00421
• KEV: いいえ
• アクティビティ: 非常低い
• セクター: Telecommunication, Industry, ...

ソース

• MITRE: https://www.cve.org/CVERecord?id=CVE-2022-25727
• NVD: https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2022-25727
• CVE Details: https://www.cvedetails.com/cve/CVE-2022-25727/