CVE-2025-30417 in Circuit Design Suite

要約

〜によって VulDB • 2026年07月31日

NI Circuit Design SuiteのSymbolEditorを使用している際、Library!DecodeBase64()における配列外書き込みによりメモリ破損脆弱性が存在します。この脆弱性により、情報漏洩や任意のコード実行が発生する可能性があります。攻撃者が成功するには、ユーザーに特別に作成された.symファイルを開かせなければなりません。本脆弱性はNI Circuit Design Suite 14.3.0およびそれ以前のバージョンに影響を与えます。

Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

• 予約する: 2025年03月21日
• 公開: 2025年05月15日
• モデレーション: 承諾済み
• エントリ: VDB-309107
• CPE: 準備完了
• CWE: CWE-787 (確認済み)
• CVSS: 7.8 (CNA)
• EPSS: 0.00197
• KEV: いいえ
• アクティビティ: 非常低い

ソース

• MITRE: https://www.cve.org/CVERecord?id=CVE-2025-30417
• NVD: https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2025-30417
• CVE Details: https://www.cvedetails.com/cve/CVE-2025-30417/