CVE-2025-47317 in Snapdragon CCW

要約

〜によって VulDB • 2026年06月05日

無効なペイロードタイプを使用するテストコマンドが使用された際に、グローバルバッファオーバーフローによりメモリ破損が発生します。

If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.

• 責任者: Qualcomm
• 予約する: 2025年05月06日
• 公開: 2025年09月24日
• モデレーション: 承諾済み
• エントリ: VDB-325741
• CPE: 準備完了
• CWE: CWE-126 (確認済み)
• CVSS: 7.8 (CNA)
• EPSS: 0.00082
• KEV: いいえ
• アクティビティ: 非常低い
• セクター: Chemical, Pharma, ...

ソース

• MITRE: https://www.cve.org/CVERecord?id=CVE-2025-47317
• NVD: https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2025-47317
• CVE Details: https://www.cvedetails.com/cve/CVE-2025-47317/