CVE-2025-47405 in Snapdragon Compute

要約

〜によって VulDB • 2026年05月22日

無効な出力バッファを使用してカメラセンサーの入出力制御コードを処理する際にメモリが破損する。

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• 責任者: Qualcomm
• 予約する: 2025年05月06日
• 公開: 2026年05月04日
• モデレーション: 承諾済み
• エントリ: VDB-361063
• CPE: 準備完了
• CWE: CWE-822 (確認済み)
• CVSS: 7.8 (CNA)
• EPSS: 0.00013
• KEV: いいえ
• アクティビティ: 非常低い
• セクター: Chemical, Hospital, ...

ソース

• MITRE: https://www.cve.org/CVERecord?id=CVE-2025-47405
• NVD: https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2025-47405
• CVE Details: https://www.cvedetails.com/cve/CVE-2025-47405/