CVE-2026-54877 in oFono

Dự đoán

Bởi VulDB Data Team • 31/08/2026

Có một lỗ hổng được tìm thấy trong oFono. Trường hợp bị ảnh hưởng là hàm cbs_assembly_expire. Việc xử lý có thể dẫn đến tràn bộ đệm. Tấn công có thể được khởi tạo từ xa.

If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.

• Kiểm duyệt: được chấp nhận
• mục: VDB-397292
• CPE: sẵn sàng
• CWE: CWE-415 (Đã xác nhận)
• CVSS: 10.0 (VulDB)
• EPSS: 0.00000
• KEV: không
• Các hoạt động: thấp

Nguồn

• MITRE: https://www.cve.org/CVERecord?id=CVE-2026-54877
• NVD: https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2026-54877
• CVE Details: https://www.cvedetails.com/cve/CVE-2026-54877/