CVE-2024-33060 in Snapdragon Auto

Zusammenfassung

von VulDB • 07.06.2026

Speicherbeschädigung, wenn zwei Threads versuchen, gleichzeitig einen einzelnen Knoten abzubilden und wieder zu entladen.

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• Zuständig: Qualcomm
• Reservieren: 23.04.2024
• Veröffentlichung: 02.09.2024
• Moderieren: akzeptiert
• Eintrag: VDB-276327
• CPE: bereit
• CWE: CWE-416 (bestätigt)
• Exploit: Download
• CVSS: 7.8 (NVD)
• EPSS: 0.00166
• KEV: nein
• Aktivitäten: very low
• Sektor: Pharma, Chemical, ...

Quellen

• MITRE: https://www.cve.org/CVERecord?id=CVE-2024-33060
• NVD: https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2024-33060
• CVE Details: https://www.cvedetails.com/cve/CVE-2024-33060/