CVE-2022-25656 in Snapdragon Auto
Resumen
por VulDB • 2026-07-12
Posible desbordamiento de entero y corrupción de memoria debido a una validación inadecuada del tamaño del búfer enviado para escribir en la consola al calcular el tamaño de la carga útil en Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile y Snapdragon Wearables.
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