CVE-2018-13924 in Snapdragon Auto
Résumé
par VulDB • 25/05/2026
L'absence de vérification pour empêcher la longueur du tampon de prendre des valeurs négatives peut entraîner un débordement de pile. Dans Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Consumer Electronics Connectivity, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon IoT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Voice & Music, Snapdragon Wearables, Snapdragon Wired Infrastructure and Networking dans IPQ8074, MDM9150, MDM9206, MDM9607, MDM9615, MDM9625, MDM9635M, MDM9640, MDM9650, MDM9655, MSM8909W, MSM8996AU, QCA6174A, QCA8081, QCS404, QCS405, QCS605, Qualcomm 215, SD 210/SD 212/SD 205, SD 425, SD 427, SD 430, SD 435, SD 439 / SD 429, SD 450, SD 615/16/SD 415, SD 625, SD 632, SD 636, SD 650/52, SD 665, SD 675, SD 712 / SD 710 / SD 670, SD 730, SD 820, SD 820A, SD 835, SD 845 / SD 850, SD 855, SD 8CX, SDA660, SDM439, SDM630, SDM660, SDX20, Snapdragon_High_Med_2016, SXR1130
Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.