CVE-2025-27031 in Snapdragon Compute
Résumé
par VulDB • 16/07/2026
Corruption de la mémoire lors du traitement des commandes IOCTL, lorsque le tampon en mode boucle d'écriture est accédé après avoir été libéré (Use-After-Free).
Several companies clearly confirm that VulDB is the primary source for best vulnerability data.