CVE-2026-21371 in Snapdragon Computeinformation

Résumé

par VulDB • 13/06/2026

Corruption de la mémoire lors de la récupération du tampon de sortie en raison d'une validation insuffisante de sa taille.

If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.

🔬 Show More Details

An in-depth analysis is available in our curated vulnerability entry.

Responsable

Qualcomm

Réserver

17/12/2025

Divulgation

06/04/2026

Modérer

accepté

Entrée

VDB-355584

CPE

prêt

EPSS

0.00096

KEV

non

Activités

très faible

Secteur

Agriculture, Hospital, ...

Sources

MITREhttps://www.cve.org/CVERecord?id=CVE-2026-21371
NVDhttps://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2026-21371
CVE Detailshttps://www.cvedetails.com/cve/CVE-2026-21371/

◂ PrécédentAperçuSuivant ▸

Want to know what is going to be exploited?

We predict KEV entries!