CVE-2022-25696 in Snapdragon Auto

要約

〜によって MITRE • 2022年09月16日

Memory corruption in display due to time-of-check time-of-use race condition during map or unmap in Snapdragon Auto, Snapdragon Compute, Snapdragon Connectivity, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

• 責任者: Qualcomm, Inc.
• 予約する: 2022年02月22日
• 公開: 2022年09月16日
• モデレーション: 承諾済み
• エントリ: VDB-208860
• CPE: 準備完了
• CWE: CWE-119 (確認済み)
• CVSS: 7.0 (NVD)
• EPSS: 0.00084
• KEV: いいえ
• アクティビティ: 非常低い
• セクター: Hospital, Pharma, ...

ソース

• MITRE: https://www.cve.org/CVERecord?id=CVE-2022-25696
• NVD: https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2022-25696
• CVE Details: https://www.cvedetails.com/cve/CVE-2022-25696/