Samsung m2m1shot Driver Framework m2m1shot_compat_ioctl32 IOCTL Call Excesso de tampão

CVSS Meta Pontuação TemporáriaPreço atual do exploit (≈)Nota de Interesse CTI
6.4$0-$5k0.00

Sumárioinformação

Uma vulnerabilidade classificada como crítico foi encontrada em Samsung m2m1shot Driver Framework. A função afetada é m2m1shot_compat_ioctl32. A manipulação como parte de IOCTL Call resulta em Excesso de tampão. Esta vulnerabilidade está registrada como CVE-2015-7892. O ataque deve ser executado de forma local. Além do mais, um exploit está disponível.

Detalhesinformação

Uma vulnerabilidade classificada como crítico foi encontrada em Samsung m2m1shot Driver Framework. A função afetada é m2m1shot_compat_ioctl32. A manipulação como parte de IOCTL Call resulta em Excesso de tampão. A definição de CWE para a vulnerabilidade é CWE-787. A falha foi descoberta em 28/10/2015. Esta vulnerabilidade foi publicada 09/12/2019.

Esta vulnerabilidade está registrada como CVE-2015-7892. O CVE foi atribuído em 22/10/2015. O ataque deve ser executado de forma local. Os detalhes técnicos podem ser consultados. Esta vulnerabilidade tem popularidade abaixo da média. Além do mais, um exploit está disponível. O exploit está disponível publicamente e pode ser explorado. Neste momento, o preço atual de um exploit pode ser cerca de USD $0-$5k agora.

Encontra-se declarado como prova de conceito. É possível descarregar a exploração em exploit-db.com. A vulnerabilidade foi tratada como um exploit zero-day não público por pelo menos 1503 dias. Esperamos que o dia 0 tenha valido aproximadamente $0-$5k.

Produtoinformação

Tipo

Fabricante

Nome

Licença

Site

CPE 2.3informação

CPE 2.2informação

CVSSv4informação

VulDB Vetor: 🔍
VulDB Fiabilidade: 🔍

CVSSv3informação

VulDB Meta Pontuação Base: 6.5
VulDB Meta Pontuação Temporária: 6.4

VulDB Pontuação Base: 5.3
VulDB Pontuação Temporária: 5.0
VulDB Vetor: 🔍
VulDB Fiabilidade: 🔍

NVD Pontuação Base: 7.8
NVD Vetor: 🔍

CVSSv2informação

AVACAuCIA
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VectorComplexidadeAutenticaçãoConfidencialidadeIntegridadeDisponibilidade
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VulDB Pontuação Base: 🔍
VulDB Pontuação Temporária: 🔍
VulDB Fiabilidade: 🔍

NVD Pontuação Base: 🔍

Exploraçãoinformação

Classe: Excesso de tampão
CWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Físico: Parcial
Local: Sim
Remoto: Não

Disponibilidade: 🔍
Acesso: Público
Estado: Prova de conceito
Descarregar: 🔍

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Tendência de preços: 🔍
Estimativa de preço atual: 🔍

0-DayDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear
HojeDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear

Exploit-DB: 🔍

Inteligência de ameaçasinformação

Interesse: 🔍
Atores ativos: 🔍
Grupos APT ativos: 🔍

Contramedidasinformação

Recomendação: nenhuma medida conhecida
Estado: 🔍

Tempo 0-dia: 🔍

Linha do tempoinformação

22/10/2015 🔍
28/10/2015 +6 dias 🔍
09/12/2019 +1503 dias 🔍
10/12/2019 +1 dias 🔍
08/06/2024 +1642 dias 🔍

Fontesinformação

Fabricante: samsung.com

Aconselhamento: 134108
Estado: Não definido

CVE: CVE-2015-7892 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2015-7892
GCVE (VulDB): GCVE-100-146812
scip Labs: https://www.scip.ch/en/?labs.20161013

Entradainformação

Criado: 10/12/2019 08h39
Atualizado: 08/06/2024 20h55
Ajustamentos: 10/12/2019 08h39 (38), 10/12/2019 08h44 (18), 09/03/2024 09h14 (5), 08/06/2024 20h55 (22)
Completo: 🔍
Cache ID: 216::103

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

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