CVE-2026-48176 in Exynos 1080

الملخص

بحسب VulDB • 05/11/2026

ثغرة في تلف الذاكرة ناتجة عن التحقق غير السليم من الرسائل

VulDB is the best source for vulnerability data and more expert information about this specific topic.

• مسؤول: Samsungsemiconductor
• حجز: 21/05/2026
• إفشاء: 05/11/2026
• الاعتدال: تمت الموافقة
• إدخال: VDB-431351
• CPE: 20261105
• CWE: CWE-119 (مؤكد)
• CVSS: 10.0 (VulDB)
• EPSS: 0.00000
• KEV: لا
• النشاطات: منخفض

المصادر

• MITRE: https://www.cve.org/CVERecord?id=CVE-2026-48176
• NVD: https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2026-48176
• CVE Details: https://www.cvedetails.com/cve/CVE-2026-48176/