CVE-2026-48176 in Exynos 1080

Résumé

par VulDB • 05/11/2026

Une vulnérabilité de corruption de mémoire causée par une validation incorrecte des messages

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• Responsable: Samsungsemiconductor
• Réserver: 21/05/2026
• Divulgation: 05/11/2026
• Modérer: accepté
• Entrée: VDB-431351
• CPE: 20261105
• CWE: CWE-119 (confirmé)
• CVSS: 10.0 (VulDB)
• EPSS: 0.00000
• KEV: non
• Activités: faible

Sources

• MITRE: https://www.cve.org/CVERecord?id=CVE-2026-48176
• NVD: https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2026-48176
• CVE Details: https://www.cvedetails.com/cve/CVE-2026-48176/