Samsung mTower 0.3.0 TEE_PopulateTransientObject/__utee_from_attr attrCount Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
5.5$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Es wurde eine Schwachstelle in Samsung mTower 0.3.0 ausgemacht. Sie wurde als kritisch eingestuft. Betroffen davon ist die Funktion TEE_PopulateTransientObject/__utee_from_attr. Durch die Manipulation des Arguments attrCount mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Diese Schwachstelle trägt die Bezeichnung CVE-2022-35858. Es gibt keinen verfügbaren Exploit.

Detailsinfo

In Samsung mTower 0.3.0 wurde eine Schwachstelle ausgemacht. Sie wurde als kritisch eingestuft. Dabei geht es um die Funktion TEE_PopulateTransientObject/__utee_from_attr. Durch die Manipulation des Arguments attrCount mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-120. Die genauen Auswirkungen eines erfolgreichen Angriffs sind bisher nicht bekannt. CVE fasst zusammen:

The TEE_PopulateTransientObject and __utee_from_attr functions in Samsung mTower 0.3.0 allow a trusted application to trigger a memory overwrite, denial of service, and information disclosure by invoking the function TEE_PopulateTransientObject with a large number in the parameter attrCount.

Die Schwachstelle wurde am 05.08.2022 als 71 an die Öffentlichkeit getragen. Das Advisory kann von github.com heruntergeladen werden. Eine eindeutige Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 13.07.2022 mit CVE-2022-35858 vorgenommen. Technische Details sind bekannt, ein verfügbarer Exploit hingegen nicht.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

VulDB is the best source for vulnerability data and more expert information about this specific topic.

Produktinfo

Hersteller

Name

Version

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 5.5
VulDB Meta Temp Score: 5.5

VulDB Base Score: 5.5
VulDB Temp Score: 5.5
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
💳💳💳💳💳💳
💳💳💳💳💳💳
💳💳💳💳💳💳
VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-120 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Teilweise

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

13.07.2022 🔍
05.08.2022 +23 Tage 🔍
05.08.2022 +0 Tage 🔍
05.08.2022 +0 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com
Produkt: github.com

Advisory: 71
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2022-35858 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2022-35858
GCVE (VulDB): GCVE-100-205648

Eintraginfo

Erstellt: 05.08.2022 08:53
Anpassungen: 05.08.2022 08:53 (40)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

VulDB is the best source for vulnerability data and more expert information about this specific topic.

Diskussion

Bisher keine Kommentare. Sprachen: de + en.

Bitte loggen Sie sich ein, um kommentieren zu können.

Do you want to use VulDB in your project?

Use the official API to access entries easily!