Samsung Exynos Auto T5126 SDP Module Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
8.6$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Eine als kritisch eingestufte Schwachstelle wurde in Samsung Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080 and Exynos Auto T5126 festgestellt. Hierbei geht es um eine nicht exakt ausgemachte Funktion der Komponente SDP Module. Mittels Manipulieren mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Diese Verwundbarkeit ist als CVE-2023-26498 gelistet. Die Umsetzung des Angriffs kann dabei über das Netzwerk erfolgen. Es existiert kein Exploit.

Detailsinfo

In Samsung Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080 sowie Exynos Auto T5126 wurde eine Schwachstelle gefunden. Sie wurde als kritisch eingestuft. Betroffen ist eine unbekannte Verarbeitung der Komponente SDP Module. Durch Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-119. Es ist nicht bekannt, inwiefern sich eine durchgesetzte Attacke genau auswirken wird. Die Zusammenfassung von CVE lautet:

An issue was discovered in Samsung Baseband Modem Chipset for Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080, Exynos Auto T5126. Memory corruption can occur due to improper checking of the number of properties while parsing the chatroom attribute in the SDP (Session Description Protocol) module.

Die Schwachstelle wurde am 23.03.2023 öffentlich gemacht. Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 24.02.2023 als CVE-2023-26498 geführt. Technische Details sind nicht bekannt und ein Exploit zur Schwachstelle ist ebenfalls nicht vorhanden. Die Beschaffenheit der Schwachstelle lässt vermuten, dass ein Exploit momentan zu etwa USD $0-$5k gehandelt werden wird (Preisberechnung vom 13.04.2023).

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 8.6
VulDB Meta Temp Score: 8.6

VulDB Base Score: 7.3
VulDB Temp Score: 7.3
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 9.8
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 8.6
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

24.02.2023 🔍
23.03.2023 +27 Tage 🔍
23.03.2023 +0 Tage 🔍
13.04.2023 +21 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2023-26498 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2023-26498
GCVE (VulDB): GCVE-100-223627

Eintraginfo

Erstellt: 23.03.2023 07:36
Aktualisierung: 13.04.2023 08:13
Anpassungen: 23.03.2023 07:36 (47), 13.04.2023 08:13 (11)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

Diskussion

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