Samsung Exynos Auto T5123 SIP URI Decoder Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
6.7$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Eine kritische Schwachstelle wurde in Samsung Exynos Mobile Processor, Automotive Processor, Modem for Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080, Exynos 9110 and Exynos Auto T5123 gefunden. Betroffen ist eine unbekannte Funktion der Komponente SIP URI Decoder. Mittels dem Manipulieren mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Diese Sicherheitslücke ist unter CVE-2023-29091 bekannt. Ein Angriff ist aus der Distanz möglich. Es steht kein Exploit zur Verfügung. Es wird geraten, einen Patch zu installieren, um dieses Problem zu lösen.

Detailsinfo

Eine Schwachstelle wurde in Samsung Exynos Mobile Processor, Automotive Processor, Modem for Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080, Exynos 9110 sowie Exynos Auto T5123 gefunden. Sie wurde als kritisch eingestuft. Es geht hierbei um ein unbekannter Codeblock der Komponente SIP URI Decoder. Durch Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Klassifiziert wurde die Schwachstelle durch CWE als CWE-119. Wie sich eine durchgeführte Attacke auswirkt, ist soweit nicht bekannt. CVE fasst zusammen:

An issue was discovered in Exynos Mobile Processor, Automotive Processor and Modem for Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080, Exynos 9110, and Exynos Auto T5123. Memory corruption can occur due to insufficient parameter validation while decoding an SIP URI.

Die Schwachstelle wurde am 15.04.2023 veröffentlicht. Das Advisory kann von semiconductor.samsung.com heruntergeladen werden. Die Identifikation der Schwachstelle findet seit dem 31.03.2023 als CVE-2023-29091 statt. Es sind weder technische Details noch ein Exploit zur Schwachstelle bekannt.

Die Schwachstelle lässt sich durch das Einspielen eines Patches beheben.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2023-32694) dokumentiert. Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 6.7
VulDB Meta Temp Score: 6.7

VulDB Base Score: 5.9
VulDB Temp Score: 5.7
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 7.5
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 6.8
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: Patch
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

31.03.2023 🔍
15.04.2023 +15 Tage 🔍
15.04.2023 +0 Tage 🔍
08.12.2025 +968 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2023-29091 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2023-29091
GCVE (VulDB): GCVE-100-226076
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 15.04.2023 08:20
Aktualisierung: 08.12.2025 03:42
Anpassungen: 15.04.2023 08:20 (48), 06.02.2025 23:50 (26), 08.12.2025 03:42 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

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