Samsung Exynos 2200 Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
5.5$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

In Samsung Exynos 2200 wurde eine Schwachstelle entdeckt. Sie wurde als problematisch eingestuft. Es geht um eine nicht näher bekannte Funktion. Dank der Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Eine eindeutige Identifikation der Schwachstelle wird mit CVE-2023-42482 vorgenommen. Der Angriff muss lokal angegangen werden. Es gibt keinen verfügbaren Exploit.

Detailsinfo

Es wurde eine Schwachstelle in Samsung Exynos 2200 - die betroffene Version ist nicht klar definiert - entdeckt. Sie wurde als problematisch eingestuft. Dabei betrifft es ein unbekannter Codeteil. Durch das Beeinflussen mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-416 vorgenommen. Wie sich ein erfolgreicher Angriff genau auswirkt, ist nicht bekannt.

Die Schwachstelle wurde am 22.09.2023 publiziert. Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 11.09.2023 mit CVE-2023-42482 vorgenommen. Eine Ausnutzung erfordert, dass das Opfer eine spezifische Handlung durchführt. Technische Details sind nicht bekannt und ein Exploit zur Schwachstelle ist ebenfalls nicht vorhanden.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2023-46922) dokumentiert. Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 5.5
VulDB Meta Temp Score: 5.5

VulDB Base Score: 4.4
VulDB Temp Score: 4.4
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 7.5
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 4.7
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-416 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Ja

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

11.09.2023 🔍
22.09.2023 +11 Tage 🔍
22.09.2023 +0 Tage 🔍
02.02.2026 +864 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2023-42482 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2023-42482
GCVE (VulDB): GCVE-100-240183
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 22.09.2023 08:05
Aktualisierung: 02.02.2026 11:53
Anpassungen: 22.09.2023 08:05 (43), 14.10.2023 14:12 (12), 02.02.2026 11:53 (16)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

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