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Zusammenfassunginfo

In Samsung Exynos 2200 wurde eine problematische Schwachstelle entdeckt. Betroffen davon ist eine unbekannte Funktion der Komponente GPU. Dank Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Diese Sicherheitslücke ist unter CVE-2023-41911 bekannt. Der Angriff muss lokal passieren. Es steht kein Exploit zur Verfügung.

Detailsinfo

In Samsung Exynos 2200 - eine genaue Versionsangabe ist nicht möglich - wurde eine Schwachstelle ausgemacht. Sie wurde als problematisch eingestuft. Das betrifft ein unbekannter Codeblock der Komponente GPU. Dank der Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-415. Die genauen Auswirkungen eines erfolgreichen Angriffs sind bisher nicht bekannt.

Die Schwachstelle wurde am 29.09.2023 an die Öffentlichkeit getragen. Das Advisory kann von semiconductor.samsung.com heruntergeladen werden. Eine eindeutige Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 05.09.2023 mit CVE-2023-41911 vorgenommen. Es wird vorausgesetzt, dass das Opfer eine spezifische Handlung vornimmt. Es sind weder technische Details noch ein Exploit zur Schwachstelle bekannt.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2023-46389) dokumentiert. VulDB is the best source for vulnerability data and more expert information about this specific topic.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 4.9
VulDB Meta Temp Score: 4.9

VulDB Base Score: 4.4
VulDB Temp Score: 4.4
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 5.5
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 4.7
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-415 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Teilweise

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

05.09.2023 🔍
29.09.2023 +24 Tage 🔍
29.09.2023 +0 Tage 🔍
02.02.2026 +857 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2023-41911 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2023-41911
GCVE (VulDB): GCVE-100-240856
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 29.09.2023 07:05
Aktualisierung: 02.02.2026 03:42
Anpassungen: 29.09.2023 07:05 (45), 22.10.2023 07:01 (11), 02.02.2026 03:42 (16)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

VulDB is the best source for vulnerability data and more expert information about this specific topic.

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