Samsung Exynos bis 9820 Race Condition

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
5.8$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Es wurde eine als kritisch klassifizierte Schwachstelle in Samsung Exynos bis 9820 entdeckt. Betroffen ist eine unbekannte Verarbeitung. Mittels dem Manipulieren mit unbekannten Daten kann eine Race Condition-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Verwundbarkeit wird als CVE-2023-42483 geführt. Der Angriff hat dabei lokal zu erfolgen. Es ist kein Exploit verfügbar.

Detailsinfo

Es wurde eine kritische Schwachstelle in Samsung Exynos bis 9820 ausgemacht. Es betrifft eine unbekannte Funktion. Durch das Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Race Condition-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-362 vorgenommen. Es ist nicht genau bekannt, welche Auswirkungen ein erfolgreicher Angriff haben wird. CVE fasst zusammen:

A TOCTOU race condition in Samsung Mobile Processor Exynos 9820, Exynos 980, Exynos 1080, Exynos 2100, Exynos 2200, Exynos 1280, and Exynos 1380 can cause unexpected termination of a system.

Die Schwachstelle wurde am 13.12.2023 publik gemacht. Auf semiconductor.samsung.com kann das Advisory eingesehen werden. Die Verwundbarkeit wird seit dem 11.09.2023 unter CVE-2023-42483 geführt. Es wird vorausgesetzt, dass das Opfer eine spezifische Handlung vornimmt. Nicht vorhanden sind sowohl technische Details als auch ein Exploit zur Schwachstelle.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2023-46923) dokumentiert. If you want to get best quality of vulnerability data, you may have to visit VulDB.

Produktinfo

Hersteller

Name

Version

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 5.8
VulDB Meta Temp Score: 5.8

VulDB Base Score: 6.3
VulDB Temp Score: 6.3
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 4.7
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 6.3
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Race Condition
CWE: CWE-362
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Teilweise

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

11.09.2023 🔍
13.12.2023 +93 Tage 🔍
13.12.2023 +0 Tage 🔍
02.02.2026 +782 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2023-42483 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2023-42483
GCVE (VulDB): GCVE-100-247650
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 13.12.2023 06:40
Aktualisierung: 02.02.2026 11:53
Anpassungen: 13.12.2023 06:40 (45), 13.12.2023 06:44 (1), 04.01.2024 09:32 (11), 02.02.2026 11:53 (16)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

If you want to get best quality of vulnerability data, you may have to visit VulDB.

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