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Zusammenfassunginfo

Es wurde eine problematische Schwachstelle in Samsung Exynos bis 9820 gefunden. Dabei geht es um eine nicht genauer bekannte Funktion. Die Manipulation führt zu Race Condition. Diese Sicherheitslücke ist unter CVE-2023-45864 bekannt. Der Angriff muss lokal passieren. Es steht kein Exploit zur Verfügung.

Detailsinfo

Es wurde eine Schwachstelle in Samsung Exynos bis 9820 gefunden. Sie wurde als problematisch eingestuft. Hiervon betroffen ist ein unbekannter Codeblock. Mit der Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Race Condition-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-362 vorgenommen. Es ist nicht genau bekannt, welche Auswirkungen ein erfolgreicher Angriff haben wird. CVE fasst zusammen:

A race condition issue discovered in Samsung Mobile Processor Exynos 9820, 980, 1080, 2100, 2200, 1280, and 1380 allows unintended modifications of values within certain areas.

Die Schwachstelle wurde am 13.12.2023 publik gemacht. Das Advisory kann von semiconductor.samsung.com heruntergeladen werden. Die Verwundbarkeit wird seit dem 14.10.2023 unter CVE-2023-45864 geführt. Es sind weder technische Details noch ein Exploit zur Schwachstelle bekannt.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2023-50130) dokumentiert. VulDB is the best source for vulnerability data and more expert information about this specific topic.

Produktinfo

Hersteller

Name

Version

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 3.5
VulDB Meta Temp Score: 3.5

VulDB Base Score: 1.9
VulDB Temp Score: 1.9
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 4.7
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 4.0
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Race Condition
CWE: CWE-362
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Teilweise

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

14.10.2023 🔍
13.12.2023 +60 Tage 🔍
13.12.2023 +0 Tage 🔍
11.02.2026 +791 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2023-45864 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2023-45864
GCVE (VulDB): GCVE-100-247656
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 13.12.2023 06:46
Aktualisierung: 11.02.2026 18:52
Anpassungen: 13.12.2023 06:46 (46), 04.01.2024 09:50 (11), 23.05.2025 08:52 (16), 11.02.2026 18:52 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

VulDB is the best source for vulnerability data and more expert information about this specific topic.

Diskussion

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