Samsung Exynos 1330 slsi_nan_get_security_info_nl Pufferüberlauf
| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 7.1 | $0-$5k | 0.00 |
Zusammenfassung
Es wurde eine kritische Schwachstelle in Samsung Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1280, Exynos 1380 and Exynos 1330 entdeckt. Dies betrifft die Funktion slsi_nan_get_security_info_nl. Durch Manipulieren mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden.
Die Identifikation der Schwachstelle findet als CVE-2024-27377 statt. Der Angriff ist nur lokal möglich. Es steht kein Exploit zur Verfügung.
Details
In Samsung Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1280, Exynos 1380 sowie Exynos 1330 wurde eine kritische Schwachstelle entdeckt. Das betrifft die Funktion slsi_nan_get_security_info_nl. Durch Beeinflussen mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-122. Die Auswirkungen sind bekannt für Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:
An issue was discovered in Samsung Mobile Processor Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1280, Exynos 1380, and Exynos 1330. In the function slsi_nan_get_security_info_nl(), there is no input validation check on sec_info->key_info.body.pmk_info.pmk_len coming from userspace, which can lead to a heap overwrite.Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 25.02.2024 als CVE-2024-27377 geführt. Sie gilt als leicht auszunutzen. Der Angriff muss lokal angegangen werden. Das Ausnutzen erfordert eine erweiterte Authentisierung. Technische Details sind bekannt, ein verfügbarer Exploit hingegen nicht. Die Beschaffenheit der Schwachstelle lässt vermuten, dass ein Exploit momentan zu etwa USD $0-$5k gehandelt werden wird (Preisberechnung vom 29.03.2025).
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.
Produkt
Hersteller
Name
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔍VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 7.1VulDB Meta Temp Score: 7.1
VulDB Base Score: 6.7
VulDB Temp Score: 6.7
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
NVD Base Score: 7.8
NVD Vector: 🔍
CNA Base Score: 6.7
CNA Vector (MITRE): 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-122 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍
Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein
Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert
EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔍
Timeline
25.02.2024 🔍05.06.2024 🔍
05.06.2024 🔍
29.03.2025 🔍
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt
CVE: CVE-2024-27377 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2024-27377
GCVE (VulDB): GCVE-100-267211
Eintrag
Erstellt: 05.06.2024 21:42Aktualisierung: 29.03.2025 11:42
Anpassungen: 05.06.2024 21:42 (61), 06.06.2024 16:46 (1), 29.03.2025 11:42 (12)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.
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