Samsung Exynos W930 Information Disclosure

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
8.0$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

In Samsung Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 2100, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos W920 and Exynos W930 wurde eine Schwachstelle entdeckt. Sie wurde als problematisch eingestuft. Es ist betroffen eine unbekannte Funktion. Durch Beeinflussen mit unbekannten Daten kann eine Information Disclosure-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Identifikation der Schwachstelle findet als CVE-2024-32504 statt. Der Angriff ist nur lokal möglich. Es steht kein Exploit zur Verfügung.

Detailsinfo

Es wurde eine Schwachstelle in Samsung Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 2100, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos W920 sowie Exynos W930 ausgemacht. Sie wurde als kritisch eingestuft. Hiervon betroffen ist eine unbekannte Funktionalität. Durch das Beeinflussen mit einer unbekannten Eingabe kann eine Information Disclosure-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-125 vorgenommen. Auswirken tut sich dies auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:

An issue was discovered in Samsung Mobile Processor and Wearable Processor Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 2100, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos W920, Exynos W930. The mobile processor lacks proper length checking, which can result in an OOB (Out-of-Bounds) Write vulnerability.

Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 15.04.2024 mit CVE-2024-32504 vorgenommen. Sie ist leicht ausnutzbar. Der Angriff muss lokal erfolgen. Technische Details sind nicht bekannt und ein Exploit zur Schwachstelle ist ebenfalls nicht vorhanden.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2024-30306) dokumentiert. Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 8.0
VulDB Meta Temp Score: 8.0

VulDB Base Score: 7.8
VulDB Temp Score: 7.8
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 7.8
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 8.4
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Information Disclosure
CWE: CWE-125 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

15.04.2024 🔍
13.06.2024 +59 Tage 🔍
13.06.2024 +0 Tage 🔍
14.06.2025 +366 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2024-32504 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2024-32504
GCVE (VulDB): GCVE-100-268431
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 13.06.2024 19:56
Aktualisierung: 14.06.2025 18:09
Anpassungen: 13.06.2024 19:56 (60), 16.07.2024 18:58 (12), 14.06.2025 18:09 (2)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

Diskussion

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