Samsung Exynos 2200/Exynos 2400 Denial of Service

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
6.4$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Eine Schwachstelle wurde in Samsung Exynos 2200 and Exynos 2400 gefunden. Sie wurde als kritisch eingestuft. Es betrifft eine unbekannte Funktion. Dank der Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Denial of Service-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Verwundbarkeit wird unter CVE-2024-31957 geführt. Der Angriff erfordert einen lokalen Zugriff. Es ist soweit kein Exploit verfügbar.

Detailsinfo

Eine Schwachstelle wurde in Samsung Exynos 2200 sowie Exynos 2400 - eine genaue Versionsangabe steht aus - ausgemacht. Sie wurde als kritisch eingestuft. Hierbei geht es um ein unbekannter Ablauf. Mit der Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Denial of Service-Schwachstelle ausgenutzt werden. Klassifiziert wurde die Schwachstelle durch CWE als CWE-404. Die Auswirkungen sind bekannt für die Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:

A vulnerability was discovered in Samsung Mobile Processors Exynos 2200 and Exynos 2400 where they lack a check for the validation of native handles, which can result in a DoS(Denial of Service) attack by unmapping an invalid length.

Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 08.04.2024 mit der eindeutigen Identifikation CVE-2024-31957 gehandelt. Die Ausnutzbarkeit ist als leicht bekannt. Umgesetzt werden muss der Angriff lokal. Technische Details sind nicht bekannt und ein Exploit zur Schwachstelle ist ebenfalls nicht vorhanden.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2024-29815) dokumentiert. Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 6.4
VulDB Meta Temp Score: 6.4

VulDB Base Score: 5.5
VulDB Temp Score: 5.5
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 7.5
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 6.2
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Denial of Service
CWE: CWE-404
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Ja

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

08.04.2024 🔍
09.07.2024 +92 Tage 🔍
09.07.2024 +0 Tage 🔍
14.06.2025 +340 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt
Bestätigung: 🔍

CVE: CVE-2024-31957 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2024-31957
GCVE (VulDB): GCVE-100-270899
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 09.07.2024 21:57
Aktualisierung: 14.06.2025 17:14
Anpassungen: 09.07.2024 21:57 (61), 13.07.2024 01:02 (12), 14.06.2025 17:14 (2)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

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