Samsung Exynos 1380/Exynos 1480 slsi_handle_nan_rx_event_log_ind Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
6.1$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Eine als kritisch eingestufte Schwachstelle wurde in Samsung Exynos 1380 and Exynos 1480 festgestellt. Es geht um die Funktion slsi_handle_nan_rx_event_log_ind. Dank der Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Diese Verwundbarkeit ist als CVE-2024-27385 gelistet. Es existiert kein Exploit.

Detailsinfo

Es wurde eine Schwachstelle in Samsung Exynos 1380 sowie Exynos 1480 - die betroffene Version ist nicht klar definiert - entdeckt. Sie wurde als kritisch eingestuft. Es geht dabei um die Funktion slsi_handle_nan_rx_event_log_ind. Durch Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-122 vorgenommen. Auswirken tut sich dies auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:

A vulnerability was discovered in the slsi_handle_nan_rx_event_log_ind function in Samsung Mobile Processor Exynos 1380 and Exynos 1480 related to no input validation check on tag_len for rx coming from userspace, which can lead to heap overwrite.

Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 25.02.2024 mit CVE-2024-27385 vorgenommen. Die Ausnutzbarkeit ist als leicht bekannt. Es sind zwar technische Details, jedoch kein verfügbarer Exploit zur Schwachstelle bekannt. Die Beschaffenheit der Schwachstelle lässt vermuten, dass ein Exploit momentan zu etwa USD $0-$5k gehandelt werden wird (Preisberechnung vom 27.06.2025).

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2024-24589) dokumentiert. Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 6.1
VulDB Meta Temp Score: 6.1

VulDB Base Score: 5.5
VulDB Temp Score: 5.5
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CNA Base Score: 6.7
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-122 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Teilweise

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

25.02.2024 🔍
09.07.2024 +134 Tage 🔍
09.07.2024 +0 Tage 🔍
27.06.2025 +352 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2024-27385 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2024-27385
GCVE (VulDB): GCVE-100-270927
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 09.07.2024 23:07
Aktualisierung: 27.06.2025 00:03
Anpassungen: 09.07.2024 23:07 (52), 13.06.2025 14:21 (2), 27.06.2025 00:03 (12)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

Diskussion

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