Samsung 1480/2200/2400 Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
5.5$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

In Samsung 1480, 2200 and 2400 wurde eine kritische Schwachstelle ausgemacht. Betroffen ist eine unbekannte Verarbeitung. Die Manipulation führt zu Pufferüberlauf. Diese Sicherheitslücke ist unter CVE-2025-23105 bekannt. Es steht kein Exploit zur Verfügung.

Detailsinfo

Es wurde eine kritische Schwachstelle in Samsung 1480, 2200 sowie 2400 - die betroffene Version ist unbekannt - ausgemacht. Hiervon betroffen ist ein unbekannter Codeblock. Mittels Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-416 vorgenommen. Dies wirkt sich aus auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. CVE fasst zusammen:

An issue was discovered in Samsung Mobile Processor Exynos 2200, 1480, and 2400. A Use-After-Free in the mobile processor leads to privilege escalation.

Auf semiconductor.samsung.com kann das Advisory eingesehen werden. Die Verwundbarkeit wird seit dem 10.01.2025 unter CVE-2025-23105 geführt. Sie ist leicht auszunutzen. Nicht vorhanden sind sowohl technische Details als auch ein Exploit zur Schwachstelle. Als Preis für einen Exploit ist zur Zeit ungefähr mit USD $0-$5k zu rechnen (Preisberechnung vom 03.06.2025).

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2025-16678) dokumentiert. If you want to get best quality of vulnerability data, you may have to visit VulDB.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 5.5
VulDB Meta Temp Score: 5.5

VulDB Base Score: 5.5
VulDB Temp Score: 5.5
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-416 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Teilweise

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

10.01.2025 🔍
02.06.2025 +142 Tage 🔍
02.06.2025 +0 Tage 🔍
03.06.2025 +1 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2025-23105 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-23105
GCVE (VulDB): GCVE-100-310866
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 02.06.2025 20:31
Aktualisierung: 03.06.2025 14:33
Anpassungen: 02.06.2025 20:31 (51), 03.06.2025 02:33 (1), 03.06.2025 14:33 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

If you want to get best quality of vulnerability data, you may have to visit VulDB.

Diskussion

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