| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 8.0 | $0-$5k | 0.00 |
Zusammenfassung
In Samsung Exynos 1480/2400 wurde eine Schwachstelle entdeckt. Sie wurde als kritisch eingestuft. Es geht um eine nicht näher bekannte Funktion. Dank der Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Verwundbarkeit wird unter CVE-2025-23099 geführt. Es ist soweit kein Exploit verfügbar.
Details
Es wurde eine Schwachstelle in Samsung Exynos 1480/2400 entdeckt. Sie wurde als kritisch eingestuft. Betroffen hiervon ist ein unbekannter Ablauf. Durch das Beeinflussen mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-787 vorgenommen. Auswirkungen hat dies auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:
An issue was discovered in Samsung Mobile Processor Exynos 1480 and 2400. The lack of a length check leads to out-of-bounds writes.Bereitgestellt wird das Advisory unter semiconductor.samsung.com. Die Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 10.01.2025 mit CVE-2025-23099 vorgenommen. Die Ausnutzbarkeit ist als leicht bekannt. Technische Details oder ein Exploit zur Schwachstelle sind nicht verfügbar. Ein Exploit zur Schwachstelle wird momentan etwa USD $0-$5k kosten (Preisberechnung vom 03.06.2025).
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2025-16677) dokumentiert. If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.
Produkt
Hersteller
Name
Version
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔍VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 8.0VulDB Meta Temp Score: 8.0
VulDB Base Score: 8.0
VulDB Temp Score: 8.0
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Teilweise
Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert
EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔍
Timeline
10.01.2025 🔍02.06.2025 🔍
02.06.2025 🔍
03.06.2025 🔍
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt
CVE: CVE-2025-23099 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-23099
GCVE (VulDB): GCVE-100-310869
EUVD: 🔍
Eintrag
Erstellt: 02.06.2025 20:36Aktualisierung: 03.06.2025 14:33
Anpassungen: 02.06.2025 20:36 (52), 03.06.2025 02:33 (1), 03.06.2025 14:33 (2)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.
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