| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 8.0 | $0-$5k | 0.00 |
Zusammenfassung
In Samsung Mobile Processor Exynos 1380 wurde eine Schwachstelle gefunden. Sie wurde als kritisch eingestuft. Davon betroffen ist unbekannter Code. Durch die Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Diese Sicherheitslücke ist unter CVE-2025-23097 bekannt. Es steht kein Exploit zur Verfügung.
Details
In Samsung Mobile Processor Exynos 1380 wurde eine kritische Schwachstelle gefunden. Das betrifft ein unbekannter Codeblock. Dank Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-787. Dies wirkt sich aus auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. CVE fasst zusammen:
An issue was discovered in Samsung Mobile Processor Exynos 1380. The lack of a length check leads to out-of-bounds writes.Auf semiconductor.samsung.com kann das Advisory eingesehen werden. Eine eindeutige Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 10.01.2025 mit CVE-2025-23097 vorgenommen. Sie ist leicht ausnutzbar. Nicht vorhanden sind sowohl technische Details als auch ein Exploit zur Schwachstelle. Als Preis für einen Exploit ist zur Zeit ungefähr mit USD $0-$5k zu rechnen (Preisberechnung vom 06.06.2025).
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2025-16783) dokumentiert. If you want to get best quality of vulnerability data, you may have to visit VulDB.
Produkt
Hersteller
Name
Version
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔍VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 8.0VulDB Meta Temp Score: 8.0
VulDB Base Score: 8.0
VulDB Temp Score: 8.0
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Teilweise
Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert
EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔍
Timeline
10.01.2025 🔍03.06.2025 🔍
03.06.2025 🔍
06.06.2025 🔍
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt
CVE: CVE-2025-23097 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-23097
GCVE (VulDB): GCVE-100-311026
EUVD: 🔍
Eintrag
Erstellt: 03.06.2025 22:22Aktualisierung: 06.06.2025 21:45
Anpassungen: 03.06.2025 22:22 (52), 03.06.2025 23:12 (1), 06.06.2025 21:45 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
If you want to get best quality of vulnerability data, you may have to visit VulDB.
Bisher keine Kommentare. Sprachen: de + en.
Bitte loggen Sie sich ein, um kommentieren zu können.