ProcessorSamsung Mobile Processor Exynos 1380 Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
8.0$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Es wurde eine kritische Schwachstelle in ProcessorSamsung Mobile Processor Exynos 1380 entdeckt. Hiervon betroffen ist ein unbekannter Codeblock. Die Veränderung resultiert in Pufferüberlauf. Die Verwundbarkeit wird unter CVE-2025-23101 geführt. Es ist soweit kein Exploit verfügbar.

Detailsinfo

Eine kritische Schwachstelle wurde in ProcessorSamsung Mobile Processor Exynos 1380 gefunden. Hierbei geht es um ein unbekannter Ablauf. Durch Beeinflussen mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Klassifiziert wurde die Schwachstelle durch CWE als CWE-416. Auswirkungen hat dies auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:

An issue was discovered in Samsung Mobile Processor Exynos 1380. A Use-After-Free in the mobile processor leads to privilege escalation.

Bereitgestellt wird das Advisory unter semiconductor.samsung.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 10.01.2025 mit der eindeutigen Identifikation CVE-2025-23101 gehandelt. Das Ausnutzen gilt als leicht. Technische Details oder ein Exploit zur Schwachstelle sind nicht verfügbar. Ein Exploit zur Schwachstelle wird momentan etwa USD $0-$5k kosten (Preisberechnung vom 06.06.2025).

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2025-16881) dokumentiert. If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.

Produktinfo

Hersteller

Name

Version

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 8.0
VulDB Meta Temp Score: 8.0

VulDB Base Score: 8.0
VulDB Temp Score: 8.0
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-416 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Teilweise

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

10.01.2025 🔍
04.06.2025 +144 Tage 🔍
04.06.2025 +0 Tage 🔍
06.06.2025 +2 Tage 🔍

Quelleninfo

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2025-23101 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-23101
GCVE (VulDB): GCVE-100-311189
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 04.06.2025 20:25
Aktualisierung: 06.06.2025 07:42
Anpassungen: 04.06.2025 20:25 (52), 04.06.2025 20:36 (1), 06.06.2025 07:42 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.

Diskussion

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