Samsung Mobile Processor Exynos bis 2400 Pufferüberlauf
| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 8.0 | $0-$5k | 0.00 |
Zusammenfassung
Eine kritische Schwachstelle wurde in Samsung Mobile Processor Exynos 1280/1380/1480/2200/2400 entdeckt. Betroffen davon ist ein unbekannter Prozess. Dank der Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Identifikation der Schwachstelle findet als CVE-2025-23096 statt. Es steht kein Exploit zur Verfügung.
Details
In Samsung Mobile Processor Exynos 1280/1380/1480/2200/2400 wurde eine kritische Schwachstelle ausgemacht. Das betrifft eine unbekannte Funktionalität. Dank Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-415. Auswirken tut sich dies auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:
An issue was discovered in Samsung Mobile Processor Exynos 1280, 2200, 1380, 1480, 2400. A Double Free in the mobile processor leads to privilege escalation.Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 10.01.2025 als CVE-2025-23096 geführt. Technische Details sind nicht bekannt und ein Exploit zur Schwachstelle ist ebenfalls nicht vorhanden. Die Beschaffenheit der Schwachstelle lässt vermuten, dass ein Exploit momentan zu etwa USD $0-$5k gehandelt werden wird (Preisberechnung vom 06.06.2025).
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2025-16880) dokumentiert. Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.
Produkt
Hersteller
Name
Version
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔍VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 8.0VulDB Meta Temp Score: 8.0
VulDB Base Score: 8.0
VulDB Temp Score: 8.0
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-415 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Teilweise
Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert
EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔍
Timeline
10.01.2025 🔍04.06.2025 🔍
04.06.2025 🔍
06.06.2025 🔍
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt
CVE: CVE-2025-23096 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-23096
GCVE (VulDB): GCVE-100-311191
EUVD: 🔍
Eintrag
Erstellt: 04.06.2025 20:25Aktualisierung: 06.06.2025 07:42
Anpassungen: 04.06.2025 20:25 (51), 04.06.2025 20:52 (1), 06.06.2025 07:42 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.
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