Samsung Processor and Wearable Processor Exynos 1280/1380/2200 VTS erweiterte Rechte
| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 5.5 | $0-$5k | 0.00 |
Zusammenfassung
Eine kritische Schwachstelle wurde in Samsung Processor and Wearable Processor Exynos 1280/1380/2200 gefunden. Es geht hierbei um eine nicht näher spezifizierte Funktion der Komponente VTS. Durch das Beeinflussen mit unbekannten Daten kann eine erweiterte Rechte-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Identifikation der Schwachstelle wird mit CVE-2025-54327 vorgenommen. Es existiert kein Exploit.
Details
In Samsung Processor and Wearable Processor Exynos 1280/1380/2200 wurde eine Schwachstelle entdeckt. Sie wurde als kritisch eingestuft. Betroffen ist ein unbekannter Teil der Komponente VTS. Durch Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine erweiterte Rechte-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-20. Die genauen Auswirkungen eines erfolgreichen Angriffs sind bisher nicht bekannt. CVE fasst zusammen:
An issue was discovered in VTS in Samsung Mobile Processor and Wearable Processor Exynos 1280, 2200, 1380, W920, W930, W1000. Improper input validation in the VTS driver leads to an arbitrary write.Das Advisory kann von semiconductor.samsung.com heruntergeladen werden. Eine eindeutige Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 20.07.2025 mit CVE-2025-54327 vorgenommen. Es sind weder technische Details noch ein Exploit zur Schwachstelle bekannt. Es muss davon ausgegangen werden, dass ein Exploit zur Zeit etwa USD $0-$5k kostet (Preisberechnung vom 04.11.2025).
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
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Produkt
Hersteller
Name
Version
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔒VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 5.5VulDB Meta Temp Score: 5.5
VulDB Base Score: 5.5
VulDB Temp Score: 5.5
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
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| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: Erweiterte RechteCWE: CWE-20
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Teilweise
Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
EPSS Score: 🔒
EPSS Percentile: 🔒
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔒
Timeline
20.07.2025 CVE zugewiesen04.11.2025 Advisory veröffentlicht
04.11.2025 VulDB Eintrag erstellt
04.11.2025 VulDB Eintrag letzte Aktualisierung
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt
CVE: CVE-2025-54327 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-54327
GCVE (VulDB): GCVE-100-331192
Eintrag
Erstellt: 04.11.2025 21:53Anpassungen: 04.11.2025 21:53 (52)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
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