Samsung Mobile Processor Exynos NPU copy_ncp_header src_hdr Denial of Service
| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 5.7 | $0-$5k | 0.00 |
Zusammenfassung
In Samsung Mobile Processor Exynos wurde eine Schwachstelle entdeckt. Sie wurde als problematisch eingestuft. Es ist betroffen die Funktion copy_ncp_header der Komponente NPU. Dank der Manipulation des Arguments src_hdr mit unbekannten Daten kann eine Denial of Service-Schwachstelle ausgenutzt werden.
Diese Verwundbarkeit ist als CVE-2025-54331 gelistet. Es existiert kein Exploit.
Details
Es wurde eine Schwachstelle in Samsung Mobile Processor Exynos - die betroffene Version ist nicht klar definiert - ausgemacht. Sie wurde als problematisch eingestuft. Es geht dabei um die Funktion copy_ncp_header der Komponente NPU. Durch das Beeinflussen des Arguments src_hdr mit einer unbekannten Eingabe kann eine Denial of Service-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-476 vorgenommen. Auswirkungen hat dies auf die Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:
An issue was discovered in NPU in Samsung Mobile Processor Exynos 1380 through July 2025. There is an Untrusted Pointer Dereference of src_hdr in the copy_ncp_header function.Bereitgestellt wird das Advisory unter semiconductor.samsung.com. Die Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 20.07.2025 mit CVE-2025-54331 vorgenommen. Es sind zwar technische Details, jedoch kein verfügbarer Exploit zur Schwachstelle bekannt.
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
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Produkt
Hersteller
Name
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔒VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 5.7VulDB Meta Temp Score: 5.7
VulDB Base Score: 5.7
VulDB Temp Score: 5.7
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
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| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: Denial of ServiceCWE: CWE-476 / CWE-404
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Teilweise
Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
EPSS Score: 🔒
EPSS Percentile: 🔒
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔒
Timeline
20.07.2025 CVE zugewiesen04.11.2025 Advisory veröffentlicht
04.11.2025 VulDB Eintrag erstellt
08.11.2025 VulDB Eintrag letzte Aktualisierung
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt
CVE: CVE-2025-54331 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-54331
GCVE (VulDB): GCVE-100-331197
Eintrag
Erstellt: 04.11.2025 21:54Aktualisierung: 08.11.2025 10:10
Anpassungen: 04.11.2025 21:54 (54), 08.11.2025 10:10 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
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