Samsung Mobile Processor/Wearable Processor Exynos bis 2200 Wi-Fi Driver conn_log_event_burst_to_us Denial of Service

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
5.7$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

In Samsung Mobile Processor and Wearable Processor Exynos bis 2200 wurde eine Schwachstelle gefunden. Sie wurde als problematisch eingestuft. Das betrifft eine unbekannte Funktionalität der Datei /proc/driver/unifi0/conn_log_event_burst_to_us der Komponente Wi-Fi Driver. Durch das Manipulieren mit unbekannten Daten kann eine Denial of Service-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Verwundbarkeit wird als CVE-2025-58344 geführt. Es ist kein Exploit verfügbar.

Detailsinfo

Es wurde eine problematische Schwachstelle in Samsung Mobile Processor sowie Wearable Processor Exynos bis 2200 entdeckt. Es betrifft eine unbekannte Funktion der Datei /proc/driver/unifi0/conn_log_event_burst_to_us der Komponente Wi-Fi Driver. Dank Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Denial of Service-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-789 vorgenommen. Auswirkungen sind zu beobachten für die Verfügbarkeit. CVE fasst zusammen:

An issue was discovered in the Wi-Fi driver in Samsung Mobile Processor and Wearable Processor Exynos 980, 850, 1080, 1280, 1330, 1380, 1480, 1580, W920, W930 and W1000. There is unbounded memory allocation in a /proc/driver/unifi0/conn_log_event_burst_to_us write operation, leading to kernel memory exhaustion.

Auf semiconductor.samsung.com kann das Advisory eingesehen werden. Die Verwundbarkeit wird seit dem 29.08.2025 unter CVE-2025-58344 geführt. Es sind zwar technische Details, jedoch kein verfügbarer Exploit zur Schwachstelle bekannt.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

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Produktinfo

Hersteller

Name

Version

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 5.7
VulDB Meta Temp Score: 5.7

VulDB Base Score: 5.7
VulDB Temp Score: 5.7
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Denial of Service
CWE: CWE-789 / CWE-400 / CWE-404
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒

Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Teilweise

Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔒
EPSS Percentile: 🔒

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔒

Timelineinfo

29.08.2025 CVE zugewiesen
03.02.2026 +158 Tage Advisory veröffentlicht
03.02.2026 +0 Tage VulDB Eintrag erstellt
05.02.2026 +2 Tage VulDB Eintrag letzte Aktualisierung

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2025-58344 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-58344
GCVE (VulDB): GCVE-100-344070

Eintraginfo

Erstellt: 03.02.2026 21:05
Aktualisierung: 05.02.2026 12:03
Anpassungen: 03.02.2026 21:05 (54), 05.02.2026 12:03 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

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