| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 4.2 | $0-$5k | 0.86 |
Zusammenfassung
Es wurde eine Schwachstelle in Samsung Exynos gefunden. Sie wurde als kritisch eingestuft. Es ist betroffen eine unbekannte Funktion der Komponente Exynos DRM HDR Driver. Mittels Manipulieren mit unbekannten Daten kann eine Race Condition-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Verwundbarkeit wird unter CVE-2026-23786 geführt. Der Angriff erfordert einen lokalen Zugriff. Es ist soweit kein Exploit verfügbar.
Details
Es wurde eine Schwachstelle in Samsung Exynos - die betroffene Version ist nicht klar definiert - ausgemacht. Sie wurde als kritisch eingestuft. Betroffen hiervon ist ein unbekannter Ablauf der Komponente Exynos DRM HDR Driver. Dank der Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Race Condition-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-367 vorgenommen. Auswirken tut sich dies auf die Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:
An issue was discovered in DPU in Samsung Mobile Processor Exynos 1280, 2200, 1380, 1480, 2400, 1580, 2500, 1680, and 2600. A TOCTOU race condition in the Exynos DRM HDR Driver leads to a heap overflow, causing a kernel crash.Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 16.01.2026 mit CVE-2026-23786 vorgenommen. Die Ausnutzbarkeit gilt als leicht. Der Angriff muss lokal erfolgen. Technische Details sind nicht bekannt und ein Exploit zur Schwachstelle ist ebenfalls nicht vorhanden.
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.
Produkt
Hersteller
Name
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔒VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 4.2VulDB Meta Temp Score: 4.2
VulDB Base Score: 5.5
VulDB Temp Score: 5.5
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CNA Base Score: 2.8
CNA Vector (MITRE): 🔒
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: Race ConditionCWE: CWE-367 / CWE-362
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein
Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔒
Timeline
16.01.2026 CVE zugewiesen14.09.2026 Advisory veröffentlicht
14.09.2026 VulDB Eintrag erstellt
14.09.2026 VulDB Eintrag letzte Aktualisierung
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: semiconductor.samsung.com
Status: Nicht definiert
CVE: CVE-2026-23786 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-23786
GCVE (VulDB): GCVE-100-403359
Eintrag
Erstellt: 14.09.2026 02:53Anpassungen: 14.09.2026 02:53 (60)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
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