| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 9.9 | $0-$5k | 0.36+ |
Zusammenfassung
Eine sehr kritische Schwachstelle wurde in Samsung Semiconductor Exynos entdeckt. Es betrifft eine unbekannte Funktion. Durch Manipulieren mit unbekannten Daten kann eine Information Disclosure-Schwachstelle ausgenutzt werden. Eine eindeutige Identifikation der Schwachstelle wird mit CVE-2026-48178 vorgenommen. Der Angriff kann remote ausgeführt werden. Es gibt keinen verfügbaren Exploit.
Details
Eine Schwachstelle wurde in Samsung Semiconductor Exynos - eine genaue Versionsangabe steht aus - ausgemacht. Sie wurde als sehr kritisch eingestuft. Betroffen davon ist ein unbekannter Codeteil. Dank Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Information Disclosure-Schwachstelle ausgenutzt werden. Klassifiziert wurde die Schwachstelle durch CWE als CWE-125. Auswirkungen hat dies auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:
Out of bound access in PPC due to race condition in global variable accessBereitgestellt wird das Advisory unter semiconductor.samsung.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 21.05.2026 mit der eindeutigen Identifikation CVE-2026-48178 gehandelt. Sie gilt als leicht auszunutzen. Umgesetzt werden kann der Angriff über das Netzwerk. Technische Details oder ein Exploit zur Schwachstelle sind nicht verfügbar. Ein Exploit zur Schwachstelle wird momentan etwa USD $0-$5k kosten (Preisberechnung vom 05.11.2026).
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.
Produkt
Hersteller
Name
Lizenz
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔒VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 9.9VulDB Meta Temp Score: 9.9
VulDB Base Score: 9.9
VulDB Temp Score: 9.9
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: Information DisclosureCWE: CWE-125 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja
Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔒
Timeline
21.05.2026 CVE zugewiesen05.11.2026 Advisory veröffentlicht
05.11.2026 VulDB Eintrag erstellt
05.11.2026 VulDB Eintrag letzte Aktualisierung
Quellen
Advisory: semiconductor.samsung.comStatus: Nicht definiert
CNA: samsungsemiconductor
CVE: CVE-2026-48178 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-48178
GCVE (VulDB): GCVE-100-431333
Eintrag
Erstellt: 05.11.2026 04:02Anpassungen: 05.11.2026 04:02 (50)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
If you want to get the best quality for vulnerability data then you always have to consider VulDB.
Bisher keine Kommentare. Sprachen: de + en.
Bitte loggen Sie sich ein, um kommentieren zu können.