Samsung Exynos Auto T5123 SIP Via Header Decoder desbordamiento de búfer

CVSS Puntuación meta temporalPrecio actual del exploit (≈)Puntuación de interés CTI
6.7$0-$5k0.00

Resumeninformación

Se ha encontrado una vulnerabilidad clasificada como crítica en Samsung Exynos Mobile Processor, Automotive Processor, Modem for Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080, Exynos 9110 and Exynos Auto T5123. Resulta afectada una función desconocida dentro del componente SIP Via Header Decoder. Por la manipulación de un input desconocido se causa una vulnerabilidad de clase desbordamiento de búfer. Esta vulnerabilidad se conoce como CVE-2023-29090. El ataque se puede hacer desde la red. No hay ningún exploit disponible. Se recomienda aplicar un parche para solucionar este problema.

Detallesinformación

Una vulnerabilidad fue encontrada en Samsung Exynos Mobile Processor, Automotive Processor, Modem for Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080, Exynos 9110 y Exynos Auto T5123 y clasificada como crítica. Una función desconocida del componente SIP Via Header Decoder es afectada por esta vulnerabilidad. Mediante la manipulación de un input desconocido se causa una vulnerabilidad de clase desbordamiento de búfer. Los efectos exactos de un ataque exitoso no son conocidos.

La vulnerabilidad fue publicada el 2023-04-15 (confirmado). El advisory puede ser descargado de semiconductor.samsung.com. La vulnerabilidad es identificada como CVE-2023-29090. No se conoce los detalles técnicos ni hay ningún exploit disponible.

Aplicando un parche es posible eliminar el problema.

La vulnerabilidad también está documentado en la base de datos EUVD (EUVD-2023-32693). Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

Productoinformación

Proveedor

Nombre

Licencia

Sitio web

CPE 2.3información

CPE 2.2información

CVSSv4información

VulDB Vector: 🔍
VulDB Confiabilidad: 🔍

CVSSv3información

VulDB Puntuación meta base: 6.7
VulDB Puntuación meta temporal: 6.7

VulDB Puntuación base: 5.9
VulDB Puntuación temporal: 5.7
VulDB Vector: 🔍
VulDB Confiabilidad: 🔍

NVD Puntuación base: 7.5
NVD Vector: 🔍

CNA Puntuación base: 6.8
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2información

AVACAuCIA
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VectorComplejidadAutenticaciónConfidencialidadIntegridadDisponibilidad
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VulDB Puntuación base: 🔍
VulDB Puntuación temporal: 🔍
VulDB Confiabilidad: 🔍

Explotacióninformación

Clase: Desbordamiento de búfer
CWE: CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Físico: No
Local: No
Remoto: Sí

Disponibilidad: 🔍
Estado: No está definido

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Predicción de precios: 🔍
Estimación del precio actual: 🔍

0-DayDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear
HoyDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear

Inteligencia de amenazasinformación

Interés: 🔍
Actores activos: 🔍
Grupos APT activos: 🔍

Contramedidasinformación

Recomendación: Parche
Estado: 🔍

Hora de 0 días: 🔍

Línea de tiempoinformación

2023-03-31 🔍
2023-04-15 +15 días 🔍
2023-04-15 +0 días 🔍
2025-12-08 +968 días 🔍

Fuentesinformación

Proveedor: samsung.com

Aviso: semiconductor.samsung.com
Estado: Confirmado

CVE: CVE-2023-29090 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2023-29090
GCVE (VulDB): GCVE-100-226075
EUVD: 🔍

Artículoinformación

Fecha de creación: 2023-04-15 08:19
Actualizado: 2025-12-08 03:42
Cambios: 2023-04-15 08:19 (48), 2023-05-03 18:45 (11), 2025-12-08 03:42 (16)
Completo: 🔍
Cache ID: 216::103

Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

Discusión

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