Samsung Exynos 1330 slsi_nan_config_get_nl_params desbordamiento de búfer

CVSS Puntuación meta temporalPrecio actual del exploit (≈)Puntuación de interés CTI
7.1$0-$5k0.00

Resumeninformación

Una vulnerabilidad clasificada como crítica fue encontrada en Samsung Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1280, Exynos 1380 and Exynos 1330. Está afectada una función desconocida. Mediante la manipulación de un input desconocido se causa una vulnerabilidad de clase desbordamiento de búfer. La vulnerabilidad es identificada como CVE-2024-27370. El ataque debe realizarse localmente. No existe ningún exploit disponible.

Detallesinformación

Una vulnerabilidad clasificada como crítica ha sido encontrada en Samsung Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1280, Exynos 1380 y Exynos 1330. La función slsi_nan_config_get_nl_params es afectada por esta vulnerabilidad. A través de la manipulación de un input desconocido se causa una vulnerabilidad de clase desbordamiento de búfer. Esto tiene repercusión sobre la confidencialidad, integridad y disponibilidad. CVE resume:

Se descubrió un problema en el procesador móvil Samsung Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1280, Exynos 1380 y Exynos 1330. En la función slsi_nan_config_get_nl_params(), no hay ninguna verificación de validación de entrada en hal_req->num_config_discovery_attr procedente del espacio de usuario, lo que puede provocar una sobrescritura del montón.

El advisory puede ser descargado de semiconductor.samsung.com. La vulnerabilidad es identificada como CVE-2024-27370. Se considera fácil de explotar. El ataque debe ser iniciado local.La explotación requiere de una verificación múltiple de la autentificación. Hay detalles técnicos conocidos, pero no se dispone de un exploit.

No hay información respecto a posibles contramedidas. Se sugiere sustituir el producto con un equivalente.

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Productoinformación

Proveedor

Nombre

Licencia

Sitio web

CPE 2.3información

CPE 2.2información

CVSSv4información

VulDB Vector: 🔍
VulDB Confiabilidad: 🔍

CVSSv3información

VulDB Puntuación meta base: 7.1
VulDB Puntuación meta temporal: 7.1

VulDB Puntuación base: 6.7
VulDB Puntuación temporal: 6.7
VulDB Vector: 🔍
VulDB Confiabilidad: 🔍

NVD Puntuación base: 7.8
NVD Vector: 🔍

CNA Puntuación base: 6.7
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2información

AVACAuCIA
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VectorComplejidadAutenticaciónConfidencialidadIntegridadDisponibilidad
DesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear
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VulDB Puntuación base: 🔍
VulDB Puntuación temporal: 🔍
VulDB Confiabilidad: 🔍

Explotacióninformación

Clase: Desbordamiento de búfer
CWE: CWE-122 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Físico: En parte
Local: Sí
Remoto: No

Disponibilidad: 🔍
Estado: No está definido

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Predicción de precios: 🔍
Estimación del precio actual: 🔍

0-DayDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear
HoyDesbloquearDesbloquearDesbloquearDesbloquear

Inteligencia de amenazasinformación

Interés: 🔍
Actores activos: 🔍
Grupos APT activos: 🔍

Contramedidasinformación

Recomendación: no contramedida conocida
Estado: 🔍

Hora de 0 días: 🔍

Línea de tiempoinformación

2024-02-25 🔍
2024-06-05 +100 días 🔍
2024-06-05 +0 días 🔍
2024-08-20 +76 días 🔍

Fuentesinformación

Proveedor: samsung.com

Aviso: semiconductor.samsung.com
Estado: Confirmado

CVE: CVE-2024-27370 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2024-27370
GCVE (VulDB): GCVE-100-267204

Artículoinformación

Fecha de creación: 2024-06-05 21:38
Actualizado: 2024-08-20 20:43
Cambios: 2024-06-05 21:38 (61), 2024-06-06 16:46 (1), 2024-08-20 20:43 (12)
Completo: 🔍
Cache ID: 216::103

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Discusión

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