Samsung Exynos Auto T5123 RLC Module buffer overflow

CVSS Score méta-temporairePrix actuel de l'exploit (≈)Score d'intérêt CTI
6.3$0-$5k0.00

Résuméinformation

Il a été détecté une vulnérabilité classée critique dans Samsung Exynos 9610, Exynos 9820, Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 2100, Exynos 2200, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos 9110, Exynos W920, Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300 and Exynos Auto T5123. La partie affectée est une fonction inconnue du composant RLC Module. L’exploitation entraîne buffer overflow. Cette faille est connue sous le nom CVE-2023-41112. L'attaque peut être menée à distance. Il n'existe pas d'exploit disponible.

Détailsinformation

Une vulnérabilité classée critique a été trouvée dans Samsung Exynos 9610, Exynos 9820, Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 2100, Exynos 2200, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos 9110, Exynos W920, Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300 et Exynos Auto T5123. Ceci affecte une fonction inconnue du composant RLC Module. A cause de la manipulation avec une valeur d'entrée inconnue mène à une vulnérabilité de classe buffer overflow.

La vulnerabilité a été publié en 08/11/2023 (confirmé). La notice d'information est disponible en téléchargement sur semiconductor.samsung.com Cette vulnérabilité est identifiée comme CVE-2023-41112. Ni les détails techniques ni un exploit sont publiquement disponibles.

Il n'y a aucune information à propos de possibles contremesures connues. Il est suggéré de remplacer l'object infecté par un produit alternatif.

La vulnérabilité est aussi documentée dans la base de données EUVD (EUVD-2023-45631). Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

Produitinformation

Fournisseur

Nom

Licence

Site web

CPE 2.3information

CPE 2.2information

CVSSv4information

VulDB Vecteur: 🔍
VulDB Fiabilité: 🔍

CVSSv3information

VulDB Score méta-base: 6.3
VulDB Score méta-temporaire: 6.3

VulDB Note de base: 4.3
VulDB Note temporaire: 4.3
VulDB Vecteur: 🔍
VulDB Fiabilité: 🔍

NVD Note de base: 7.5
NVD Vecteur: 🔍

CNA Note de base: 7.1
CNA Vecteur (MITRE): 🔍

CVSSv2information

AVACAuCIA
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VecteurComplexitéAuthentificationConfidentialitéIntégritéDisponibilité
DéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller
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DéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller

VulDB Note de base: 🔍
VulDB Note temporaire: 🔍
VulDB Fiabilité: 🔍

Exploitationinformation

Classe: Buffer overflow
CWE: CWE-120 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physique: Non
Local: Non
Remote: Oui

Disponibilité: 🔍
Statut: Non défini

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Prédiction de prix: 🔍
Estimation actuelle des prix: 🔍

0-DayDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller
Aujourd'huiDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller

Renseignements sur les menacesinformation

Intérêt: 🔍
Acteurs actifs: 🔍
Groupes APT actifs: 🔍

Contre-mesuresinformation

Recommandé: aucune mesure d'atténuation connue
Statut: 🔍

Heure 0 jour: 🔍

Chronologieinformation

23/08/2023 🔍
08/11/2023 +77 jours 🔍
08/11/2023 +0 jours 🔍
31/01/2026 +815 jours 🔍

Sourcesinformation

Fournisseur: samsung.com

Bulletin: semiconductor.samsung.com
Statut: Confirmé

CVE: CVE-2023-41112 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2023-41112
GCVE (VulDB): GCVE-100-244767
EUVD: 🔍

Entréeinformation

Créé: 08/11/2023 10:27
Mise à jour: 31/01/2026 17:36
Changements: 08/11/2023 10:27 (47), 05/12/2023 08:58 (11), 31/01/2026 17:36 (16)
Complet: 🔍
Cache ID: 216::103

Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

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