Samsung Mobile Processor/Wearable Processor Exynos jusqu’à 2200 Wi-Fi Driver ap_cert_disable_ht_vht déni de service

CVSS Score méta-temporairePrix actuel de l'exploit (≈)Score d'intérêt CTI
5.7$0-$5k0.00

Résuméinformation

Il a été détecté une vulnérabilité classée problématique dans Samsung Mobile Processor and Wearable Processor Exynos jusqu’à 2200. L'élément affecté est une fonction inconnue du fichier /proc/driver/unifi0/ap_cert_disable_ht_vht du composant Wi-Fi Driver. L’exploitation entraîne déni de service. Cette faille est connue sous le nom CVE-2025-58341. Il n'existe pas d'exploit disponible.

Détailsinformation

Une vulnérabilité classée problématique a été trouvée dans Samsung Mobile Processor et Wearable Processor Exynos jusqu’à 2200. Ceci affecte une fonction inconnue du fichier /proc/driver/unifi0/ap_cert_disable_ht_vht du composant Wi-Fi Driver. A cause de la manipulation avec une valeur d'entrée inconnue mène à une vulnérabilité de classe déni de service.

La notice d'information est disponible en téléchargement sur semiconductor.samsung.com Cette vulnérabilité est identifiée comme CVE-2025-58341. Les détails technniques sont connus, mais aucun exploite n'est disponible.

Il n'y a aucune information à propos de possibles contremesures connues. Il est suggéré de remplacer l'object infecté par un produit alternatif.

Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

Produitinformation

Fournisseur

Nom

Version

Licence

Site web

CPE 2.3information

CPE 2.2information

CVSSv4information

VulDB Vecteur: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍

CVSSv3information

VulDB Score méta-base: 5.7
VulDB Score méta-temporaire: 5.7

VulDB Note de base: 5.7
VulDB Note temporaire: 5.7
VulDB Vecteur: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍

CVSSv2information

AVACAuCIA
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VecteurComplexitéAuthentificationConfidentialitéIntégritéDisponibilité
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VulDB Note de base: 🔒
VulDB Note temporaire: 🔒
VulDB Fiabilité: 🔍

Exploitationinformation

Classe: Déni de service
CWE: CWE-789 / CWE-400 / CWE-404
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒

Physique: Non
Local: Non
Remote: Partiellement

Disponibilité: 🔒
Statut: Non défini

EPSS Score: 🔒
EPSS Percentile: 🔒

Prédiction de prix: 🔍
Estimation actuelle des prix: 🔒

0-DayDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller
Aujourd'huiDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller

Renseignements sur les menacesinformation

Intérêt: 🔍
Acteurs actifs: 🔍
Groupes APT actifs: 🔍

Contre-mesuresinformation

Recommandé: aucune mesure d'atténuation connue
Statut: 🔍

Heure 0 jour: 🔒

Chronologieinformation

29/08/2025 CVE réservé
03/02/2026 +158 jours Avis publié
03/02/2026 +0 jours Entrée VulDB créée
05/02/2026 +2 jours Dernière mise à jour VulDB

Sourcesinformation

Fournisseur: samsung.com

Bulletin: semiconductor.samsung.com
Statut: Confirmé

CVE: CVE-2025-58341 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-58341
GCVE (VulDB): GCVE-100-344067

Entréeinformation

Créé: 03/02/2026 21:04
Mise à jour: 05/02/2026 12:03
Changements: 03/02/2026 21:04 (54), 05/02/2026 12:03 (1)
Complet: 🔍
Cache ID: 216::103

Statistical analysis made it clear that VulDB provides the best quality for vulnerability data.

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