Samsung Mobile Devices N Exynos Chipset Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
6.8$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Eine Schwachstelle wurde in Samsung Mobile Devices N ausgemacht. Sie wurde als kritisch eingestuft. Betroffen ist eine unbekannte Funktion der Komponente Exynos Chipset. Die Manipulation führt zu Pufferüberlauf. Die Verwundbarkeit wird als CVE-2018-5210 geführt. Ein Angriff ist aus der Distanz möglich. Es ist kein Exploit verfügbar.

Detailsinfo

Eine Schwachstelle wurde in Samsung Mobile Devices N (Smartphone Operating System) gefunden. Sie wurde als kritisch eingestuft. Davon betroffen ist eine unbekannte Funktion der Komponente Exynos Chipset. Mittels dem Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Klassifiziert wurde die Schwachstelle durch CWE als CWE-119. Mit Auswirkungen muss man rechnen für Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. CVE fasst zusammen:

On Samsung mobile devices with N(7.x) software and Exynos chipsets, attackers can conduct a Trustlet stack overflow attack for arbitrary TEE code execution, in conjunction with a brute-force attack to discover unlock information (PIN, password, or pattern). The Samsung ID is SVE-2017-10733.

Entdeckt wurde das Problem am 03.01.2018. Die Schwachstelle wurde am 04.01.2018 (Website) veröffentlicht. Das Advisory kann von security.samsungmobile.com heruntergeladen werden. Die Identifikation der Schwachstelle findet seit dem 03.01.2018 als CVE-2018-5210 statt. Der Angriff kann über das Netzwerk passieren. Das Ausnutzen erfordert keine spezifische Authentisierung. Es sind weder technische Details noch ein Exploit zur Schwachstelle bekannt.

Dabei muss 1 Tage als nicht veröffentlichte Zero-Day Schwachstelle ausgegangen werden. Während dieser Zeit erzielte er wohl etwa $0-$5k auf dem Schwarzmarkt.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Schwachstellen ähnlicher Art sind dokumentiert unter VDB-111342, VDB-115287, VDB-115285 und VDB-115286. Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Produktinfo

Typ

Hersteller

Name

Version

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 6.8
VulDB Meta Temp Score: 6.8

VulDB Base Score: 5.6
VulDB Temp Score: 5.6
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 8.1
NVD Vector: 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

03.01.2018 🔍
03.01.2018 +0 Tage 🔍
04.01.2018 +1 Tage 🔍
04.01.2018 +0 Tage 🔍
05.01.2018 +1 Tage 🔍
19.12.2019 +713 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: security.samsungmobile.com
Status: Nicht definiert
Bestätigung: 🔍

CVE: CVE-2018-5210 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2018-5210
GCVE (VulDB): GCVE-100-111380
Siehe auch: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 05.01.2018 10:08
Aktualisierung: 19.12.2019 17:47
Anpassungen: 05.01.2018 10:08 (59), 19.12.2019 17:47 (2)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Diskussion

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