Samsung Mobile Devices N Exynos Chipset buffer overflow

CVSS Score méta-temporairePrix actuel de l'exploit (≈)Score d'intérêt CTI
6.8$0-$5k0.00

Résuméinformation

Une vulnérabilité classée comme critique a été trouvée dans Samsung Mobile Devices N. L'élément affecté est une fonction inconnue du composant Exynos Chipset. A cause de la manipulation avec une valeur d'entrée inconnue mène à une vulnérabilité de classe buffer overflow. Cette vulnérabilité est référencée sous CVE-2018-5210. L'attaque peut être lancée à distance. Aucun exploit n'est disponible.

Détailsinformation

Une vulnérabilité a été trouvé dans Samsung Mobile Devices N (Smartphone Operating System) et classée critique. Affecté est une fonction inconnue du composant Exynos Chipset. La manipulation avec une valeur d'entrée inconnue mène à une vulnérabilité de classe buffer overflow.

Le bug a été découvert sur 03/01/2018. La vulnerabilité a été publié en 04/01/2018 (Website) (non défini). La notice d'information est disponible en téléchargement sur security.samsungmobile.com Cette vulnérabilité a été nommée CVE-2018-5210. Il est possible de lancer l'attaque à distance. L'exploitation ne nécéssite aucune forme d'authentification. Les détails techniques sont inconnus et un exploit n'est pas disponible pour le public.

Cette vulnérabilité a été classée comme 0-day non publique pendant au moins 1 jours.

Il n'y a aucune information à propos de possibles contremesures connues. Il est suggéré de remplacer l'object infecté par un produit alternatif.

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

Produitinformation

Taper

Fournisseur

Nom

Version

Licence

Site web

CPE 2.3information

CPE 2.2information

CVSSv4information

VulDB Vecteur: 🔍
VulDB Fiabilité: 🔍

CVSSv3information

VulDB Score méta-base: 6.8
VulDB Score méta-temporaire: 6.8

VulDB Note de base: 5.6
VulDB Note temporaire: 5.6
VulDB Vecteur: 🔍
VulDB Fiabilité: 🔍

NVD Note de base: 8.1
NVD Vecteur: 🔍

CVSSv2information

AVACAuCIA
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VecteurComplexitéAuthentificationConfidentialitéIntégritéDisponibilité
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VulDB Note de base: 🔍
VulDB Note temporaire: 🔍
VulDB Fiabilité: 🔍

NVD Note de base: 🔍

Exploitationinformation

Classe: Buffer overflow
CWE: CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physique: Non
Local: Non
Remote: Oui

Disponibilité: 🔍
Statut: Non défini

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Prédiction de prix: 🔍
Estimation actuelle des prix: 🔍

0-DayDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller
Aujourd'huiDéverrouillerDéverrouillerDéverrouillerDéverrouiller

Renseignements sur les menacesinformation

Intérêt: 🔍
Acteurs actifs: 🔍
Groupes APT actifs: 🔍

Contre-mesuresinformation

Recommandé: aucune mesure d'atténuation connue
Statut: 🔍

Heure 0 jour: 🔍

Chronologieinformation

03/01/2018 🔍
03/01/2018 +0 jours 🔍
04/01/2018 +1 jours 🔍
04/01/2018 +0 jours 🔍
05/01/2018 +1 jours 🔍
19/12/2019 +713 jours 🔍

Sourcesinformation

Fournisseur: samsung.com

Bulletin: security.samsungmobile.com
Statut: Non défini
Confirmation: 🔍

CVE: CVE-2018-5210 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2018-5210
GCVE (VulDB): GCVE-100-111380
Voir aussi: 🔍

Entréeinformation

Créé: 05/01/2018 10:08
Mise à jour: 19/12/2019 17:47
Changements: 05/01/2018 10:08 (59), 19/12/2019 17:47 (2)
Complet: 🔍
Cache ID: 216::103

Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.

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