| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 7.7 | $0-$5k | 0.00 |
Zusammenfassung
Es wurde eine Schwachstelle in Qualcomm Mobile Devices O(8.x)/P(9.0) entdeckt. Sie wurde als kritisch eingestuft. Betroffen davon ist eine unbekannte Funktion. Durch das Manipulieren mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Diese Sicherheitslücke ist unter CVE-2019-20568 bekannt. Umgesetzt werden kann der Angriff über das Netzwerk. Es steht kein Exploit zur Verfügung.
Details
In Qualcomm Mobile Devices O(8.x)/P(9.0) (Smartphone Operating System) wurde eine Schwachstelle ausgemacht. Sie wurde als kritisch eingestuft. Das betrifft ein unbekannter Codeblock. Durch Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-416. Mit Auswirkungen muss man rechnen für Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. CVE fasst zusammen:
An issue was discovered on Samsung mobile devices with O(8.x) and P(9.0) devices (Exynos and Qualcomm chipsets) software. A race condition causes a Use-After-Free. The Samsung ID is SVE-2019-15067 (September 2019).Die Schwachstelle wurde am 24.03.2020 (Website) an die Öffentlichkeit getragen. Das Advisory kann von security.samsungmobile.com heruntergeladen werden. Eine eindeutige Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 23.03.2020 mit CVE-2019-20568 vorgenommen. Die Umsetzung des Angriffs kann dabei über das Netzwerk erfolgen. Um eine Ausnutzung durchzusetzen, muss keine spezifische Authentisierung umgesetzt werden. Es sind weder technische Details noch ein Exploit zur Schwachstelle bekannt.
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
Mit dieser Schwachstelle verwandte Einträge finden sich unter VDB-111342, VDB-111380, VDB-115287 und VDB-115285. Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.
Produkt
Typ
Hersteller
Name
Version
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.qualcomm.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔍VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 7.7VulDB Meta Temp Score: 7.7
VulDB Base Score: 7.3
VulDB Temp Score: 7.3
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
NVD Base Score: 8.1
NVD Vector: 🔍
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
NVD Base Score: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-416 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍
Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja
Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert
EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔍
Timeline
23.03.2020 🔍24.03.2020 🔍
25.03.2020 🔍
04.10.2020 🔍
Quellen
Hersteller: qualcomm.comAdvisory: security.samsungmobile.com
Status: Nicht definiert
Bestätigung: 🔍
CVE: CVE-2019-20568 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2019-20568
GCVE (VulDB): GCVE-100-152116
Siehe auch: 🔍
Eintrag
Erstellt: 25.03.2020 09:42Aktualisierung: 04.10.2020 19:46
Anpassungen: 25.03.2020 09:42 (37), 25.03.2020 09:47 (18), 04.10.2020 19:46 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.
Bisher keine Kommentare. Sprachen: de + en.
Bitte loggen Sie sich ein, um kommentieren zu können.