Samsung Exynos Auto T5123 SIP Min-SE Header Decoder Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
6.7$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Es wurde eine kritische Schwachstelle in Samsung Exynos Mobile Processor, Automotive Processor, Modem for Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080, Exynos 9110 and Exynos Auto T5123 entdeckt. Es geht um eine nicht näher bekannte Funktion der Komponente SIP Min-SE Header Decoder. Dank der Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Identifikation der Schwachstelle findet als CVE-2023-29086 statt. Der Angriff kann über das Netzwerk angegangen werden. Es steht kein Exploit zur Verfügung. Es wird geraten, einen Patch zu installieren, um dieses Problem zu lösen.

Detailsinfo

Es wurde eine Schwachstelle in Samsung Exynos Mobile Processor, Automotive Processor, Modem for Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080, Exynos 9110 sowie Exynos Auto T5123 entdeckt. Sie wurde als kritisch eingestuft. Hiervon betroffen ist eine unbekannte Funktionalität der Komponente SIP Min-SE Header Decoder. Durch Beeinflussen mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-119 vorgenommen. Wie sich ein erfolgreicher Angriff genau auswirkt, ist nicht bekannt. Die Zusammenfassung von CVE lautet:

An issue was discovered in Exynos Mobile Processor, Automotive Processor and Modem for Exynos Modem 5123, Exynos Modem 5300, Exynos 980, Exynos 1080, Exynos 9110, and Exynos Auto T5123. Memory corruption can occur due to insufficient parameter validation while decoding an SIP Min-SE header.

Die Schwachstelle wurde am 15.04.2023 publiziert. Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 31.03.2023 mit CVE-2023-29086 vorgenommen. Technische Details sind nicht bekannt und ein Exploit zur Schwachstelle ist ebenfalls nicht vorhanden.

Die Schwachstelle lässt sich durch das Einspielen eines Patches lösen.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2023-32689) dokumentiert. Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 6.7
VulDB Meta Temp Score: 6.7

VulDB Base Score: 5.9
VulDB Temp Score: 5.7
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 7.5
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 6.8
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
💳💳💳💳💳💳
💳💳💳💳💳💳
💳💳💳💳💳💳
VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: Patch
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

31.03.2023 🔍
15.04.2023 +15 Tage 🔍
15.04.2023 +0 Tage 🔍
08.12.2025 +968 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2023-29086 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2023-29086
GCVE (VulDB): GCVE-100-226071
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 15.04.2023 08:17
Aktualisierung: 08.12.2025 01:55
Anpassungen: 15.04.2023 08:17 (48), 03.05.2023 18:16 (11), 08.12.2025 01:55 (16)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

Diskussion

Bisher keine Kommentare. Sprachen: de + en.

Bitte loggen Sie sich ein, um kommentieren zu können.

◂ ZurückÜbersichtWeiter ▸

Do you want to use VulDB in your project?

Use the official API to access entries easily!