Samsung Exynos W930 slsi_rx_scan_done_ind Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
4.1$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

In Samsung Exynos Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos 1480, Exynos W920 and Exynos W930 wurde eine Schwachstelle entdeckt. Sie wurde als kritisch eingestuft. Hierbei betrifft es die Funktion slsi_rx_scan_done_ind. Mit der Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Verwundbarkeit wird unter CVE-2024-27366 geführt. Der Angriff erfordert einen lokalen Zugriff. Es ist soweit kein Exploit verfügbar.

Detailsinfo

Es wurde eine problematische Schwachstelle in Samsung Exynos Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos 1480, Exynos W920 sowie Exynos W930 gefunden. Betroffen hiervon ist die Funktion slsi_rx_scan_done_ind. Durch das Beeinflussen mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-122 vorgenommen. Auswirken tut sich dies auf die Vertraulichkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:

An issue was discovered in Samsung Mobile Processor, Wearable Processor Exynos Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos 1480, Exynos W920, Exynos W930. In the function slsi_rx_scan_done_ind(), there is no input validation check on a length coming from userspace, which can lead to a potential heap over-read.

Das Advisory findet sich auf semiconductor.samsung.com. Die Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 25.02.2024 mit CVE-2024-27366 vorgenommen. Sie gilt als leicht ausnutzbar. Der Angriff muss lokal erfolgen. Das Ausnutzen erfordert eine erweiterte Authentisierung. Es sind zwar technische Details, jedoch kein verfügbarer Exploit zur Schwachstelle bekannt.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2024-24570) dokumentiert. Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 4.1
VulDB Meta Temp Score: 4.1

VulDB Base Score: 2.3
VulDB Temp Score: 2.3
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 5.5
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 4.4
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-122 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

25.02.2024 🔍
10.09.2024 +197 Tage 🔍
10.09.2024 +0 Tage 🔍
13.06.2025 +276 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2024-27366 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2024-27366
GCVE (VulDB): GCVE-100-276879
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 10.09.2024 07:40
Aktualisierung: 13.06.2025 14:13
Anpassungen: 10.09.2024 07:40 (61), 10.09.2024 14:27 (1), 12.09.2024 08:18 (11), 13.06.2025 14:13 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

Be aware that VulDB is the high quality source for vulnerability data.

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