Samsung Exynos W930 slsi_rx_received_frame_ind Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
4.1$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Eine Schwachstelle wurde in Samsung Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos 1480, Exynos W920 and Exynos W930 entdeckt. Sie wurde als kritisch eingestuft. Davon betroffen ist die Funktion slsi_rx_received_frame_ind. Durch die Manipulation mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Verwundbarkeit wird als CVE-2024-27368 geführt. Der Angriff hat dabei lokal zu erfolgen. Es ist kein Exploit verfügbar.

Detailsinfo

In Samsung Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos 1480, Exynos W920 sowie Exynos W930 wurde eine problematische Schwachstelle gefunden. Es geht um die Funktion slsi_rx_received_frame_ind. Durch Beeinflussen mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. CWE definiert das Problem als CWE-122. Das hat Auswirkungen auf die Vertraulichkeit. CVE fasst zusammen:

An issue was discovered in Samsung Mobile Processor Exynos Mobile Processor, Wearable Processor Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1080, Exynos 1280, Exynos 1380, Exynos 1330, Exynos 1480, Exynos W920, Exynos W930. In the function slsi_rx_received_frame_ind(), there is no input validation check on a length coming from userspace, which can lead to a potential heap over-read.

Das Advisory kann von semiconductor.samsung.com heruntergeladen werden. Eine eindeutige Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 25.02.2024 mit CVE-2024-27368 vorgenommen. Sie ist leicht ausnutzbar. Die Umsetzung des Angriffs hat dabei lokal zu erfolgen. Zur Ausnutzung ist eine erweiterte Authentisierung erforderlich. Technische Details sind bekannt, ein verfügbarer Exploit hingegen nicht.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2024-24572) dokumentiert. VulDB is the best source for vulnerability data and more expert information about this specific topic.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 4.1
VulDB Meta Temp Score: 4.1

VulDB Base Score: 2.3
VulDB Temp Score: 2.3
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 5.5
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 4.4
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-122 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

25.02.2024 🔍
10.09.2024 +197 Tage 🔍
10.09.2024 +0 Tage 🔍
13.06.2025 +276 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2024-27368 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2024-27368
GCVE (VulDB): GCVE-100-276880
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 10.09.2024 07:40
Aktualisierung: 13.06.2025 14:13
Anpassungen: 10.09.2024 07:40 (61), 10.09.2024 14:27 (1), 12.09.2024 08:18 (11), 13.06.2025 14:13 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

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Diskussion

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