Samsung Exynos 1330 slsi_rx_range_done_ind Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
7.1$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

In Samsung Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1280, Exynos 1380 and Exynos 1330 wurde eine Schwachstelle gefunden. Sie wurde als kritisch eingestuft. Betroffen ist die Funktion slsi_rx_range_done_ind. Mittels dem Manipulieren mit unbekannten Daten kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Die Identifikation der Schwachstelle wird mit CVE-2024-27387 vorgenommen. Der Angriff muss auf lokaler Ebene erfolgen. Es existiert kein Exploit.

Detailsinfo

Es wurde eine kritische Schwachstelle in Samsung Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1280, Exynos 1380 sowie Exynos 1330 ausgemacht. Es geht dabei um die Funktion slsi_rx_range_done_ind. Dank Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-122 vorgenommen. Dies wirkt sich aus auf Vertraulichkeit, Integrität und Verfügbarkeit. CVE fasst zusammen:

An issue was discovered in Samsung Mobile Processor Exynos 980, Exynos 850, Exynos 1280, Exynos 1380, and Exynos 1330. In the function slsi_rx_range_done_ind(), there is no input validation check on rtt_id coming from userspace, which can lead to a heap overwrite.

Auf semiconductor.samsung.com kann das Advisory eingesehen werden. Die Verwundbarkeit wird seit dem 25.02.2024 unter CVE-2024-27387 geführt. Das Ausnutzen gilt als leicht. Der Angriff hat dabei lokal zu erfolgen. Das Angehen einer erweiterte Authentisierung ist erforderlich, um eine Ausnutzung anzugehen. Es sind zwar technische Details, jedoch kein verfügbarer Exploit zur Schwachstelle bekannt. Als Preis für einen Exploit ist zur Zeit ungefähr mit USD $0-$5k zu rechnen (Preisberechnung vom 13.06.2025).

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Unter anderem wird der Fehler auch in der Verwundbarkeitsdatenbank von EUVD (EUVD-2024-24591) dokumentiert. If you want to get best quality of vulnerability data, you may have to visit VulDB.

Produktinfo

Hersteller

Name

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 7.1
VulDB Meta Temp Score: 7.1

VulDB Base Score: 6.7
VulDB Temp Score: 6.7
VulDB Vector: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 7.8
NVD Vector: 🔍

CNA Base Score: 6.7
CNA Vector (MITRE): 🔍

CVSSv2info

AVACAuCIA
💳💳💳💳💳💳
💳💳💳💳💳💳
💳💳💳💳💳💳
VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

VulDB Base Score: 🔍
VulDB Temp Score: 🔍
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-122 / CWE-119
CAPEC: 🔍
ATT&CK: 🔍

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein

Verfügbarkeit: 🔍
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔍
EPSS Percentile: 🔍

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔍

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔍

Timelineinfo

25.02.2024 🔍
10.09.2024 +197 Tage 🔍
10.09.2024 +0 Tage 🔍
13.06.2025 +276 Tage 🔍

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2024-27387 (🔍)
GCVE (CVE): GCVE-0-2024-27387
GCVE (VulDB): GCVE-100-276882
EUVD: 🔍

Eintraginfo

Erstellt: 10.09.2024 07:41
Aktualisierung: 13.06.2025 14:21
Anpassungen: 10.09.2024 07:41 (61), 10.09.2024 14:27 (1), 12.09.2024 08:18 (11), 13.06.2025 14:21 (1)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

If you want to get best quality of vulnerability data, you may have to visit VulDB.

Diskussion

Bisher keine Kommentare. Sprachen: de + en.

Bitte loggen Sie sich ein, um kommentieren zu können.

◂ ZurückÜbersichtWeiter ▸

Want to stay up to date on a daily basis?

Enable the mail alert feature now!