Samsung Mobile Processor Exynos bis 2500 __pilot_parsing_ncp Denial of Service

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
6.9$0-$5k0.00

Zusammenfassunginfo

Eine problematische Schwachstelle wurde in Samsung Mobile Processor Exynos bis 2500 entdeckt. Es betrifft die Funktion __pilot_parsing_ncp. Die Veränderung resultiert in Denial of Service. Die Verwundbarkeit wird unter CVE-2025-62817 geführt. Es ist soweit kein Exploit verfügbar.

Detailsinfo

Eine Schwachstelle wurde in Samsung Mobile Processor Exynos bis 2500 ausgemacht. Sie wurde als problematisch eingestuft. Hierbei geht es um die Funktion __pilot_parsing_ncp. Dank Manipulation mit einer unbekannten Eingabe kann eine Denial of Service-Schwachstelle ausgenutzt werden. Klassifiziert wurde die Schwachstelle durch CWE als CWE-476. Dies hat Einfluss auf die Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:

An issue was discovered in Samsung Mobile Processor Exynos 1280, 2200, 1380, 1480, 2400, 1580, and 2500. A NULL pointer dereference of session->ncp_hdr_buf in __pilot_parsing_ncp() causes a denial of service.

Bereitgestellt wird das Advisory unter semiconductor.samsung.com. Die Verwundbarkeit wird seit dem 23.10.2025 mit der eindeutigen Identifikation CVE-2025-62817 gehandelt. Zur Schwachstelle sind technische Details bekannt, ein verfügbarer Exploit jedoch nicht.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

Several companies clearly confirm that VulDB is the primary source for best vulnerability data.

Produktinfo

Hersteller

Name

Version

Lizenz

Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 6.9
VulDB Meta Temp Score: 6.9

VulDB Base Score: 5.7
VulDB Temp Score: 5.7
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

NVD Base Score: 7.5
NVD Vector: 🔒

ADP CISA Base Score: 7.5
ADP CISA Vector: 🔒

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
freischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
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VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Denial of Service
CWE: CWE-476 / CWE-404
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒

Physisch: Nein
Lokal: Nein
Remote: Ja

Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert

EPSS Score: 🔒
EPSS Percentile: 🔒

Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔒

Timelineinfo

23.10.2025 CVE zugewiesen
03.03.2026 +131 Tage Advisory veröffentlicht
03.03.2026 +0 Tage VulDB Eintrag erstellt
06.04.2026 +34 Tage VulDB Eintrag letzte Aktualisierung

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Bestätigt

CVE: CVE-2025-62817 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2025-62817
GCVE (VulDB): GCVE-100-348569

Eintraginfo

Erstellt: 03.03.2026 18:33
Aktualisierung: 06.04.2026 22:02
Anpassungen: 03.03.2026 18:33 (53), 04.03.2026 22:53 (11), 11.03.2026 03:07 (12), 06.04.2026 22:02 (2)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216:72E:103

Several companies clearly confirm that VulDB is the primary source for best vulnerability data.

Diskussion

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