| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 4.3 | $0-$5k | 0.78 |
Zusammenfassung
Eine Schwachstelle wurde in Samsung Exynos ausgemacht. Sie wurde als problematisch eingestuft. Dabei betrifft es einen unbekannter Codeteil der Komponente DPU. Die Manipulation führt zu Pufferüberlauf. Die Verwundbarkeit wird mit der eindeutigen Identifikation CVE-2026-23790 gehandelt. Der Angriff muss lokal durchgeführt werden. Es ist soweit kein Exploit verfügbar.
Details
Eine problematische Schwachstelle wurde in Samsung Exynos - die betroffene Version ist nicht genau spezifiziert - entdeckt. Hierbei geht es um unbekannter Programmcode der Komponente DPU. Mittels dem Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Klassifiziert wurde die Schwachstelle durch CWE als CWE-415. Mit Auswirkungen muss man rechnen für Integrität und Verfügbarkeit. CVE fasst zusammen:
An issue was discovered in DPU in Samsung Mobile Processor Exynos 1280, 2200, 1380, 1480, 2400, 1580, 2500, 1680, and 2600. A double-free vulnerability in the Samsung Exynos DPU driver (due to improper pointer management during DMA buffer reallocation) leads to kernel memory corruption and a potential use-after-free.Das Advisory kann von semiconductor.samsung.com heruntergeladen werden. Die Identifikation der Schwachstelle findet seit dem 16.01.2026 als CVE-2026-23790 statt. Sie ist leicht auszunutzen. Der Angriff muss lokal passieren. Es sind weder technische Details noch ein Exploit zur Schwachstelle bekannt.
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.
Produkt
Hersteller
Name
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔒VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 4.3VulDB Meta Temp Score: 4.3
VulDB Base Score: 4.4
VulDB Temp Score: 4.4
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CNA Base Score: 4.2
CNA Vector (MITRE): 🔒
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-415 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein
Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔒
Timeline
16.01.2026 CVE zugewiesen14.09.2026 Advisory veröffentlicht
14.09.2026 VulDB Eintrag erstellt
14.09.2026 VulDB Eintrag letzte Aktualisierung
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: semiconductor.samsung.com
Status: Nicht definiert
CVE: CVE-2026-23790 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-23790
GCVE (VulDB): GCVE-100-403364
Eintrag
Erstellt: 14.09.2026 03:39Anpassungen: 14.09.2026 03:39 (60)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
Once again VulDB remains the best source for vulnerability data.
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