Samsung Exynos DPU driver Pufferüberlauf

CVSS Meta Temp ScoreAktueller Exploitpreis (≈)CTI Interest Score
4.3$0-$5k0.53

Zusammenfassunginfo

Eine Schwachstelle, die als problematisch eingestuft wurde, wurde in Samsung Exynos gefunden. Hierbei betrifft es unbekannten Programmcode der Komponente DPU driver. Die Veränderung resultiert in Pufferüberlauf. Diese Schwachstelle wird als CVE-2026-23791 gehandelt. Der Angriff muss lokal erfolgen. Es ist kein Exploit verfügbar.

Detailsinfo

Es wurde eine problematische Schwachstelle in Samsung Exynos - die betroffene Version ist nicht klar definiert - gefunden. Es betrifft unbekannter Code der Komponente DPU driver. Mittels Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-787 vorgenommen. Auswirkungen hat dies auf Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:

An issue was discovered in DPU in Samsung Mobile Processor Exynos 1280, 2200, 1380, 1480, 2400, 1580, 2500, 1680, and 2600. An out-of-bounds write vulnerability in the Exynos DPU driver (due to missing input length validation in color mode LUT parsing) leads to kernel memory corruption and potential privilege escalation.

Bereitgestellt wird das Advisory unter semiconductor.samsung.com. Die Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 16.01.2026 mit CVE-2026-23791 vorgenommen. Das Ausnutzen gilt als leicht. Der Angriff muss lokal erfolgen. Technische Details oder ein Exploit zur Schwachstelle sind nicht verfügbar.

Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.

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Produktinfo

Hersteller

Name

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Webseite

CPE 2.3info

CPE 2.2info

CVSSv4info

VulDB Vector: 🔒
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CVSSv3info

VulDB Meta Base Score: 4.3
VulDB Meta Temp Score: 4.3

VulDB Base Score: 4.4
VulDB Temp Score: 4.4
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

CNA Base Score: 4.2
CNA Vector (MITRE): 🔒

CVSSv2info

AVACAuCIA
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VektorKomplexitätAuthentisierungVertraulichkeitIntegritätVerfügbarkeit
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VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍

Exploitinginfo

Klasse: Pufferüberlauf
CWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒

Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein

Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒

0-Dayfreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten
Heutefreischaltenfreischaltenfreischaltenfreischalten

Threat Intelligenceinfo

Interesse: 🔍
Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍

Gegenmassnahmeninfo

Empfehlung: keine Massnahme bekannt
Status: 🔍

0-Day Time: 🔒

Timelineinfo

16.01.2026 CVE zugewiesen
14.09.2026 +240 Tage Advisory veröffentlicht
14.09.2026 +0 Tage VulDB Eintrag erstellt
14.09.2026 +0 Tage VulDB Eintrag letzte Aktualisierung

Quelleninfo

Hersteller: samsung.com

Advisory: semiconductor.samsung.com
Status: Nicht definiert

CVE: CVE-2026-23791 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-23791
GCVE (VulDB): GCVE-100-403365

Eintraginfo

Erstellt: 14.09.2026 03:39
Anpassungen: 14.09.2026 03:39 (60)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103

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