| CVSS Meta Temp Score | Aktueller Exploitpreis (≈) | CTI Interest Score |
|---|---|---|
| 4.3 | $0-$5k | 0.53 |
Zusammenfassung
Eine Schwachstelle, die als problematisch eingestuft wurde, wurde in Samsung Exynos gefunden. Hierbei betrifft es unbekannten Programmcode der Komponente DPU driver. Die Veränderung resultiert in Pufferüberlauf. Diese Schwachstelle wird als CVE-2026-23791 gehandelt. Der Angriff muss lokal erfolgen. Es ist kein Exploit verfügbar.
Details
Es wurde eine problematische Schwachstelle in Samsung Exynos - die betroffene Version ist nicht klar definiert - gefunden. Es betrifft unbekannter Code der Komponente DPU driver. Mittels Manipulieren mit einer unbekannten Eingabe kann eine Pufferüberlauf-Schwachstelle ausgenutzt werden. Im Rahmen von CWE wurde eine Klassifizierung als CWE-787 vorgenommen. Auswirkungen hat dies auf Integrität und Verfügbarkeit. Die Zusammenfassung von CVE lautet:
An issue was discovered in DPU in Samsung Mobile Processor Exynos 1280, 2200, 1380, 1480, 2400, 1580, 2500, 1680, and 2600. An out-of-bounds write vulnerability in the Exynos DPU driver (due to missing input length validation in color mode LUT parsing) leads to kernel memory corruption and potential privilege escalation.Bereitgestellt wird das Advisory unter semiconductor.samsung.com. Die Identifikation der Schwachstelle wird seit dem 16.01.2026 mit CVE-2026-23791 vorgenommen. Das Ausnutzen gilt als leicht. Der Angriff muss lokal erfolgen. Technische Details oder ein Exploit zur Schwachstelle sind nicht verfügbar.
Es sind keine Informationen bezüglich Gegenmassnahmen bekannt. Der Einsatz eines alternativen Produkts bietet sich im Zweifelsfall an.
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Produkt
Hersteller
Name
Lizenz
Webseite
- Hersteller: https://www.samsung.com/
CPE 2.3
CPE 2.2
CVSSv4
VulDB Vector: 🔒VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CVSSv3
VulDB Meta Base Score: 4.3VulDB Meta Temp Score: 4.3
VulDB Base Score: 4.4
VulDB Temp Score: 4.4
VulDB Vector: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
CNA Base Score: 4.2
CNA Vector (MITRE): 🔒
CVSSv2
| AV | AC | Au | C | I | A |
|---|---|---|---|---|---|
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 | 💳 |
| Vektor | Komplexität | Authentisierung | Vertraulichkeit | Integrität | Verfügbarkeit |
|---|---|---|---|---|---|
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
| freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
VulDB Base Score: 🔒
VulDB Temp Score: 🔒
VulDB Zuverlässigkeit: 🔍
Exploiting
Klasse: PufferüberlaufCWE: CWE-787 / CWE-119
CAPEC: 🔒
ATT&CK: 🔒
Physisch: Teilweise
Lokal: Ja
Remote: Nein
Verfügbarkeit: 🔒
Status: Nicht definiert
Preisentwicklung: 🔍
Aktuelle Preisschätzung: 🔒
| 0-Day | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
|---|---|---|---|---|
| Heute | freischalten | freischalten | freischalten | freischalten |
Threat Intelligence
Interesse: 🔍Aktive Akteure: 🔍
Aktive APT Gruppen: 🔍
Gegenmassnahmen
Empfehlung: keine Massnahme bekanntStatus: 🔍
0-Day Time: 🔒
Timeline
16.01.2026 CVE zugewiesen14.09.2026 Advisory veröffentlicht
14.09.2026 VulDB Eintrag erstellt
14.09.2026 VulDB Eintrag letzte Aktualisierung
Quellen
Hersteller: samsung.comAdvisory: semiconductor.samsung.com
Status: Nicht definiert
CVE: CVE-2026-23791 (🔒)
GCVE (CVE): GCVE-0-2026-23791
GCVE (VulDB): GCVE-100-403365
Eintrag
Erstellt: 14.09.2026 03:39Anpassungen: 14.09.2026 03:39 (60)
Komplett: 🔍
Cache ID: 216::103
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